Gebraucht HITACHI S-7840 #293667159 zu verkaufen

ID: 293667159
Wafergröße: 4"
Weinlese: 2007
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 4" Loader unit, 6" Vibrating table Cassette mount non-functional 2007 vintage.
HITACHI S-7840 scanning electron microscope (SEM) ist ein vielseitiges und zuverlässiges analytisches Instrument. Es ist ein ultrastabiles analytisches Instrument, das den höchsten Anforderungen an die Materialcharakterisierung gerecht wird. Diese fortschrittliche und zuverlässige Fähigkeit ist eine großartige Option für eine breite Palette von Industrie-, Universitäts- und Forschungslaboranwendungen. HITACHI S 7840 verfügt über eine Reihe einzigartiger Funktionen, die es von anderen Mikroskopen auf dem Markt unterscheiden. Diese Funktionen ermöglichen es dem Benutzer, maximale Auflösung und Kontrast mit minimiertem Astigmatismus, optischen Aberrationen, Ablenkfehlern und Vibrationen zu erhalten. Auf diese Weise erhält der Anwender Mikroskopbilder mit beispielloser Klarheit und Detailtreue. S-7840 verfügt über einen großen Viewport, der eine hervorragende visuelle Beobachtung ermöglicht und mit einer automatisierten XY-Z Joystick-Bühne ausgestattet ist, die es dem Benutzer ermöglicht, die Positionierung der Proben schnell zu manipulieren, ohne dass die manuelle Handhabung mit anderen Mikroskopen erforderlich ist. Dies ermöglicht eine beispiellose Flexibilität bei der Positionierung von Proben und verkürzt die Vorbereitungszeit. S 7840 verfügt über einen fortschrittlichen Ultrahochvakuum (UHV) -Elektronendetektor, der eine hochauflösende Abbildung nichtmetallischer Probenoberflächen ermöglicht. Dies ist ein wesentliches Merkmal, das auf vielen anderen Mikroskopen nicht verfügbar ist und es dem Benutzer ermöglicht, jede Oberfläche genau zu untersuchen und zu analysieren, unabhängig von seinen Eigenschaften. HITACHI S-7840 verfügt über eine Reihe fortschrittlicher Elektronenquellen- und Bildgebungsoptionen, die es ermöglichen, Abbildungen und Abtastungen über einen weiten Bereich von Nieder- bis Hochspannungsanwendungen und bildgebender Auflösung zu ermöglichen. Dies macht das Instrument vielseitig genug, um den meisten Forschungs- und Industriebedürfnissen gerecht zu werden, sodass Benutzer Bilder höherer Auflösung genau erfassen und Strukturen auf atomarer Ebene genau replizieren können. HITACHI S 7840 umfasst auch eine Vielzahl von Software und Steuerungen für Bildverarbeitung und Datenanalyse. Die Software kann für eine Reihe von Funktionen verwendet werden, darunter automatisierte Probenvorbereitung, Bildverarbeitung, Datenanalyse und Probenanalyse. Die Software ist benutzerfreundlich und leicht zu erlernen, so dass sie auch für die Anfänger perfekt ist. S-7840 ist eine ausgezeichnete Wahl für diejenigen, die ein fortschrittliches Forschungsmikroskop suchen. Mit seinen fortschrittlichen und zuverlässigen Fähigkeiten, Flexibilität und intuitiver Software ist es eine ausgezeichnete Wahl für jeden Benutzer, der ein zuverlässiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop benötigt.
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