Gebraucht HITACHI S-7840 #293800274 zu verkaufen

HITACHI S-7840 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) von HITACHI High Technologies. Ideal für Forschung und Entwicklung, ist dieses SEM in der Lage, extrem hohe Leistungen und Genauigkeit zu bieten. HITACHI S 7840 verfügt über viele fortschrittliche Technologien, um hochauflösende Bildgebungs- und Messergebnisse zu erzielen. Das SEM verfügt über eine aberrationskorrigierte Feldemissionselektronenquelle (FES), die hoch kontrollierte und fokussierte Strahlenergien und Beleuchtung ermöglicht. Dies ergibt S-7840 höhere Strahlstabilität und höhere Kontrast- und Auflösungsgrade. Darüber hinaus ermöglicht die hohe Strahlstabilität eine schnellere Abtastung und eine qualitativ hochwertigere Bildgebung. S 7840 ist auch mit einem großen, hochauflösenden Display für die Anzeige von aufgenommenen Bildern ausgestattet. Das Display befindet sich vor dem Instrument, das den Benutzern Zugriff auf Bildmanipulation und direkten Vergleich gibt. Das Display verfügt über eine intuitive und intuitive Bedienung und bietet Anwendern mehr Flexibilität in ihrer Arbeit. HITACHI S-7840 verfügt zudem über ein digitales Bildanalysesystem, das eine anspruchsvolle Bildanalyse ermöglicht. Dieses System bietet Benutzern leistungsstarke Datenanalysefunktionen durch geometrische, Kontrast- und Gradientenanalysen. Neben den fortschrittlichen Bildgebungstechnologien verfügt HITACHI S 7840 auch über eine automatisierte Probenphase. Diese Stufe ermöglicht eine automatisierte Probenpositionierung und Messung. Die Probenstufe bietet auch schnell Platz für Probenaustausch, so dass genaue und wiederholbare Messungen möglich sind. S-7840 ist auch mit einer breiten Palette von Musterhaltern und Zubehör kompatibel. Dazu gehören Halter für Proben bis 400mm Größe, verschiedene Formkörper und Proben in einer breiten Palette von Materialien. Die S 7840 verfügt außerdem über eine Vorbereitungskammer mit eingebauter Vakuumpumpe zur Steuerung der Kammerbedingungen. Dies eignet sich insbesondere zur Beschichtung empfindlicher Proben mit einer dünnen, nicht leitenden Schicht. Insgesamt ist HITACHI S-7840 ein fortschrittliches und funktionelles Werkzeug zur Bildgebung und Messung einer Vielzahl von Materialproben auf der Nanoskala. Die fortschrittlichen bildgebenden Technologien und die automatisierte Probenphase machen es zum perfekten Werkzeug für Forschung und Entwicklung.