Gebraucht HITACHI S-7840 #293815241 zu verkaufen

HITACHI S-7840 ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für fortgeschrittene Inspektionen und Analysen einer Vielzahl von Materialien und Proben entwickelt wurde. Diese erweiterten Tools bieten die höchste Auflösung mit einer Vergrößerung von bis zu 500.000x und bieten höchste Klarheit mit einer unübertroffenen Fähigkeit, Details zu lösen. HITACHI S 7840 verfügt über einen variablen Druckdetektor, eine Auswahl aus zwei E-Gun-Systemen und eine Dual-Detektor-Konfiguration, die ein umfassendes Niveau an Analyse- und Bildgebungsfunktionen bietet. S-7840 verwendet variable Drucktechnologie, um die Aufladung nichtleitender Proben und Fähigkeiten zur automatisierten Beobachtung, Messung und Inspektion im Ultrahochvakuum (UHV) und anderen Vakuummodi zu reduzieren. Der variable Druckdetektor eliminiert Verschmutzungen bei größeren nichtleitenden Proben und erhöht den Nutzen des Systems für eine Vielzahl von Anwendungen. Die beiden E-Gun-Systeme Field Emission Gun (FEG) und Thermionic Gun (TEG) bieten eine hohe Auflösung und Empfindlichkeit. Die S 7840 bietet mit ihrer spezialisierten Software auch automatisierte Orientierungsanalysen und Formerkennungsfunktionen. Proben werden automatisch ausgerichtet, und die Software kann die Form von Partikeln und Mikrostrukturen in einer Reihe von Materialien automatisch erkennen, messen und melden. Diese erweiterte Funktion hilft Benutzern, hochgenaue Maßmessungen zu erhalten und schnell verschiedene Eigenschaften der Probe mit fortschrittlicher Automatisierung zu erhalten. Zudem bietet HITACHI S-7840 mit seinem automatisierten Bilderfassungssystem (AIAS) hohe Präzision. Diese optionale Funktion ermöglicht es Benutzern, Bilder automatisch mit minimaler Zeit und Aufwand zu erfassen. Das AIAS bietet Mustererkennungsfunktionen, die es ermöglichen, das Sichtfeld automatisch an die Probe anzupassen und ein Bild für mehr Effizienz zu erhalten. Darüber hinaus bietet HITACHI S 7840 mit seinen fortschrittlichen Funktionen wie erweitertes Scannen und Autofokus-Funktionen, automatisierte Schubsteuerung und vibrationsfreie Bewegung auch eine optimale Bildumgebung. Diese Funktionen helfen Benutzern, ihre Bildgebungsfähigkeit zu maximieren und die Genauigkeit und Qualität ihrer Ergebnisse zu verbessern. Insgesamt ist S-7840 ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das hohe Auflösung und Klarheit für detaillierte Kleinbilddarstellung, Analyse und Inspektion bietet. Es bietet die neuesten analytischen Fähigkeiten und automatisierte Probenhandhabung und gibt Forschern und Ingenieuren die Möglichkeit, detaillierte Einblicke in die Mikrostrukturen einer breiten Palette von Materialien aufzudecken.