Gebraucht HITACHI S-7840 #9225865 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9225865
Weinlese: 2001
Scanning electron microscope (SEM)
Port, 6"
(6) Holders A
IP1 Vacuum: <0.5 x 10^-7Pa
Canceller: MK3
Vibration table
HV Cont: 15 kV
Options:
Multi point measurement
Edge roughness
Hole measurement
Reduced scan
Image database
Auto vid
Save to DOS FD
IP Read
Operator accessories
Corner measurement
Power: 100V, 50Hz
2001 vintage.
HITACHI S-7840 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für erweiterte Bildgebungsfunktionen entwickelt wurde. Dank seiner überlegenen analytischen Fähigkeiten ist es ideal für Forschungsanwendungen in den unterschiedlichsten Bereichen geeignet. Es verfügt über ein hochempfindliches energiedispersives Röntgenspektrometer (EDS) und ein hochauflösendes Sekundärelektronen-Bildgebungssystem. HITACHI S 7840 hat eine maximale Beschleunigungsspannung von 30kV und ist mit einem 0,5 nm auflösenden Bildgebungssystem ausgestattet. Es kann Proben bis zu einem Durchmesser von 50 mm scannen und verfügt über eine integrierte Probenstufe zur präzisen Probenmanipulation. S-7840 hat eine hohe Empfindlichkeit bei niedrigen Beschleunigungsspannungen sowie eine niedrige Elektronenstrahlstromdichte für empfindliche Abbildungsoperationen. Das bildgebende System von S 7840 verwendet einen Sekundärelektronendetektor und einen rückgestreuten Elektronendetektor, kombiniert mit einem Helligkeitsfelddetektor, für kontrastreiche Bilder. HITACHI S-7840 verfügt außerdem über einen optionalen Elektronen-Backscatter-Diffraktor (EBSD) und ein optionales energiedispersives Röntgenspektrometer (EDS) für verbesserte Analysefähigkeiten. HITACHI S 7840 ist für die automatisierte Bilderfassung einfach programmierbar und kann auch von einem entfernten PC aus über die spezielle Bildgebungssoftware gesteuert werden, mit der das Modell ausgestattet ist. Es ist auch in der Lage, 3D-Bilder mit seiner speziellen 3D-Funktion zu erfassen und seine Bühne mit einer externen Probe auszurichten, mit seiner automatischen Ausrichtungsfunktion. In Bezug auf seine Fähigkeiten in Bezug auf Auflösung und Geschwindigkeit ist S-7840 außerordentlich schnell und genau und ist in der Lage, Submikron-Auflösungsfunktionen in Proben zu erkennen. Seine analytische Leistung, seine schnellen Bildgebungsgeschwindigkeiten und seine vielseitige Anwendung machen es für viele Forschungsanwendungen in den Bereichen Molekularbiologie, Materialwissenschaft und Nanotechnologie geeignet. Darüber hinaus ist der automatisierte Betrieb und die einfache Integration in andere Systeme eine hocheffiziente und flexible bildgebende Lösung. Abschließend ist S 7840 ein überlegenes Rasterelektronenmikroskop, das für erweiterte Bildgebungs- und Analysefunktionen entwickelt wurde. Seine überlegene Empfindlichkeit, Auflösung und Geschwindigkeit machen es zu einer idealen Wahl für Forschung und industrielle Anwendungen. Seine vielseitigen Eigenschaften und seine einfache Programmierbarkeit machen es zu einer hocheffizienten und zuverlässigen bildgebenden Lösung.
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