Gebraucht HITACHI S-7840 #9355503 zu verkaufen

ID: 9355503
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) Removed parts: Wafer holder Penning gauge Pirani gauge Valve actuator / Solenoid.
HITACHI S-7840 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hohe Auflösung und detaillierte Bildgebungsfähigkeit bietet. SEMs werden in einer Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen eingesetzt, um extrem kleine Objekte bei hoher Vergrößerung zu beobachten und weitere Analysen durchzuführen. Das Rasterelektronenmikroskop HITACHI S 7840 verfügt über eine Hochvakuumkammer, ein digitales Bildgebungs-/Analysesystem, eine computergesteuerte Stufe und ein digitales Eingabesystem. Dieses SEM verwendet vakuumdichte Elektronenemitter und Elektronenoptik-Technologie, um eine genaue und präzise Nanoskala-Analyse zu ermöglichen. Das digitale Bildgebungssystem bietet eine Reihe von Vergrößerungen bis zu 250.000 X und bietet beispiellose Details. Die einstellbaren Strahlströme und die Bühnenpositionierung ermöglichen eine hochauflösende Abbildung und genaue Abbildung von Oberflächen. Das SEM ist mit einem eingebauten Detektor ausgestattet, der Signale von den Elektronen detektieren kann und sowohl bildgebende als auch elementare Analysen liefert. Dieser Detektor kann auch die Helligkeit des Bildes auf verschiedenen Ebenen messen. Weitere Funktionen sind Beispielsteuerung und automatische Bildanzeige/Animation. S-7840 ist kompatibel mit einer Vielzahl von optionalem Zubehör, wie Digitalkamera, Laser und Röntgendetektor. S 7840 ist sehr vielseitig einsetzbar und bietet eine einfach zu bedienende Schnittstelle. Es ist ideal für eine breite Palette von Anwendungen, einschließlich metallurgische Analyse, Fehleranalyse, Computer-Chip-Engineering und organische Chemie. Es wird auch im medizinischen Bereich zur biologischen Probenanalyse und -prüfung eingesetzt. HITACHI S-7840 ist auf Langlebigkeit ausgelegt und bietet überlegene Leistung in allen Forschungs- und Industrieanwendungen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor