Gebraucht HITACHI S-806 #293634215 zu verkaufen

HITACHI S-806 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein Multimodus-Hochleistungs-SEM, das in der Lage ist, Proben bei hohen Vergrößerungen mit Nanometer-Auflösung zu betrachten. HITACHI S806 ist in der Lage, sekundäre Elektronen-, Rückstreuelektronen- und Auger-Elektronenbilder sowie Röntgenspektren, chemische Zustandskarten und andere elementare Charakterisierungsdaten zu erzeugen. S 806 verfügt über eine Feldemissionskanone (FEG), die eine ausgezeichnete Strahlstabilität bietet und Änderungen aufgrund von Gasbedingungen minimiert, was eine höhere Präzision und Messergebnisse ermöglicht. Die FEG-Quelle hat eine variable Beschleunigungsspannung von 0,5 bis 30 kV bei einem Betriebsbereich von 1-25 kV. HITACHI S 806 ist mit verschiedenen Befehlen zur Einstellung von Scan-Größe, Auflösung, Vergrößerung und Kontrast ausgestattet, um die Anzeige- und Bildgebungsfähigkeit für Proben zu maximieren. Die SEM-Probenkammer ist groß genug für Proben bis 100 x 100 mm, und eine Umweltkammer steht zur Steuerung der Atmosphäre und des Drucks zur Verfügung. S806 verwendet auch einen 12-Bit-SEM-Bildgebungsdetektor mit einer Pixelgröße von 5 x 5 Mikrometern, um Bilder mit hohem Detailgrad zu erzeugen. Um präzise Ergebnisse zu erzielen, ist S-806 in der Lage, eine Vielzahl von Detektoren in das SEM-System zu integrieren. Zu diesen Detektoren gehören Leistungsspektrometer, Detektoren zur Kompositanalyse von Verbundwerkstoffen und semiquantitative Analysen sowie optische Detektoren zur Bestimmung der Höhe von Proben. HITACHI S-806 kann in Verbindung mit einem herkömmlichen Stereomikroskop zur Aufnahme von 3D-Bildern verwendet werden. Es unterstützt auch eine Vielzahl von automatisierten Bühnenoptionen, um das Laden, Positionieren und Messen von Proben zu vereinfachen. Insgesamt sind die fortschrittlichen Eigenschaften von HITACHI S806 Scanning Electron Microscope eine ideale Wahl für die Abbildung und Charakterisierung im Nanometermaßstab. Seine vielseitigen und präzisen Fähigkeiten, FEG-Quelle, automatisierte Bühnenunterstützung und verschiedene Detektionssysteme ermöglichen genaue Ergebnisse in einer Vielzahl wissenschaftlicher Anwendungen.