Gebraucht HITACHI S-806 #293809103 zu verkaufen

HITACHI S-806 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) und ausgestattet, um klare und zuverlässige Bilder für wissenschaftliche und wissenschaftliche Forschung zu liefern. Dieses Rasterelektronenmikroskop hat eine hohe Auflösungskapazität, so dass Benutzer mehr Details in den von ihm erzeugten Bildern erzielen können. Die maximale Auflösung dieses Mikroskops beträgt 0,35 nm und hat einen Beschleunigungsspannungsbereich von 10kV bis 30kV. HITACHI S806 kommt mit einem sekundären Elektronendetektor und einem rückgestreuten Elektronendetektor, so dass Benutzer besser zwischen Oberflächenmerkmalen und Zusammensetzung unterscheiden können. Mit dem Sekundärelektronendetektor können Benutzer auch nur die Materialatome an der Oberfläche betrachten. Dieses Mikroskop ist auch mit einem 3D-Mapping-System ausgestattet, das Benutzern die Möglichkeit gibt, dreidimensionale Karten der von ihnen analysierten Oberflächen zu erstellen. Die wiederaufladbare Ionenquelle in S 806 ermöglicht die Analyse von Materialien mit höherer Flüchtigkeit, einschließlich der Analyse organischer Materialien, die bei niedrigeren Temperaturen verdampfen. Diese Fähigkeit ermöglicht es Anwendern, neue Materialien besser zu studieren. Die Vakuumkammer von S806 enthält einen drehbaren Probenhalter, der es ermöglicht, Proben aus verschiedenen Winkeln abzubilden und einen Probenhalter während des gesamten Abbildungsprozesses zu halten. Zur Änderung von Druck und Temperatur der Vakuumkammer kann auch eine Umweltkammer vorgesehen sein. HITACHI S 806 kommt auch mit einem Bildverarbeitungssystem, mit dem Benutzer Bilder digital verarbeiten und Daten über die Probe sammeln können. Über Software können Anwender auch Partikelanalysen durchführen, Linienbreiten messen und Probenbewegungen verfolgen sowie Röntgenspektren digital verarbeiten. Schließlich umfassen die Probenvorbereitungsfähigkeiten dieses Mikroskops EDS-Analyse und Ladungskorrektur. Das Probenvorbereitungssystem ermöglicht auch die Beschichtung einer Probe mit einer dünnen metallischen Schicht, wodurch eine Beschädigung durch den Elektronenstrahl verhindert wird. Darüber hinaus kann die Probenkammer leicht durch eine Vielzahl anderer Komponenten ersetzt werden, die eine Flexibilität bei der Probenvorbereitung ermöglichen. Insgesamt ist S-806 ein effektives Rasterelektronenmikroskop für eine Vielzahl wissenschaftlicher und wissenschaftlicher Forschungen. Es ist mit modernster Technologie und Funktionen ausgestattet, um die Zuverlässigkeit und Genauigkeit der von diesem Mikroskop erzeugten Bilder zu maximieren. Dieses Feature-gepackte Ausrüstung ist ein perfektes Werkzeug für jede Forschung Einstellung.