Gebraucht HITACHI S-8600 #9144956 zu verkaufen

HITACHI S-8600 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein Mehrzweck-Elektronenmikroskop, das sowohl den Anforderungen von Forschung als auch industriellen Anwendungen gerecht wird. S-8600 verfügt über eine hochmoderne Feldemission (FEG) In-Linsen-Elektronenquelle, die einen Primärstrahl mit einer astigmatismusarmen Form erzeugt. Die durch dieses Design erzeugte hohe Helligkeit bietet ein hervorragendes Signal-Rausch-Verhältnis für hervorragende Bildqualität. HITACHI S-8600 ist vielseitig einsetzbar und bietet ein breites Spektrum an Funktionen und Anwendungen. Seine Sondenspannung reicht von 1kV bis 30kV und seine maximale Vergrößerung reicht bis zu 800,000X. Der BSE-Detektor (Back Scattered Electron) verfügt über eine eigene Abtaststeuerung, so dass separate Bilder mit unterschiedlichen Vergrößerungen erhalten werden können. S-8600 ist auch ein ausgezeichnetes Werkzeug für die Elementaranalyse mit seiner eingebauten EDS (Energy Dispersive Röntgenspektroskopie), die Spektralanalysen bis zu 8.0keV ermöglicht. Die Stufe des HITACHI S-8600 kann für manuellen oder automatisierten Betrieb konfiguriert werden. Die voll geschlossene motorisch angetriebene Stufe verfügt über einen breiten Hubbereich (300 x 400mm) und kann auch für den wiederholbaren und präzisen Betrieb zu den Probenkoordinaten programmiert werden. S-8600 verfügt zudem über ein innovatives System zur plasmagestützten Probenvorbereitung (PASP). Dieses System hilft, die Probenaufladung zu reduzieren, indem es eine Argonatmosphäre über der Probenkammer erzeugt und die Reinigung von Proben mit einem Prozess ermöglicht, der als Ar-Sputter bezeichnet wird. Dieses Verfahren erweitert den Einsatz von HITACHI- S-8600 auf verschiedene Materialien von Isoliermaterialien über kohlenstoffhaltige Verbindungen bis hin zu sehr dünnen biologischen Proben. Neben den hervorragenden bildgebenden Funktionen des S-8600 ist es auch ideal für die Materialanalyse. Sein Dual-Back-Scatter-Detektor dient zur Messung der elementaren Zusammensetzung der Proben. Es ist einzigartig In-Objektiv-Detektor bietet auch überlegene topographische Bilder und beseitigt Bildverzerrung durch Astigmatismus verursacht. Insgesamt ist HITACHI S-8600 ein Multifunktions-Rasterelektronenmikroskop, das qualitativ hochwertige Bildgebungs- und Probenanalysefunktionen sowohl für Forschung als auch für industrielle Anwendungen bietet. Seine breite Palette an Möglichkeiten und benutzerfreundliche Bedienung macht es zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen.