Gebraucht HITACHI S-8820 #293618031 zu verkaufen
Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.
Tippen Sie auf Zoom


Verkauft
ID: 293618031
Wafergröße: 6"
Weinlese: 1995
Scanning Electron Microscope (SEM), 6"
SECS
Electron gun: Schottky tip
Workstation: B180
Stage: 6"-8"
No pumps
Accelerating: 800 V
Probe current: 6 PA
1995 vintage.
HITACHI S-8820 scanning electronmicroscope (SEM) ist ein analytisches Instrument zur Bereitstellung von Informationen über die Morphologie, Zusammensetzung und topographische Merkmale einer Vielzahl von Probenmaterialien. Es verwendet einen Rasterelektronenstrahl, um eine Probenoberfläche abzutasten, und dann misst und speichert das von der Elektronik detektierte Signal aus der Probe gestreut. Das SEM ermöglicht es dem Anwender auch, elementare kompositorische Analysen aus ausgewählten Bereichen der Probe zu erwerben. HITACHI S 8820 verwendet ein verbessertes Vakuumsystem, um eine stabile Leistung bei einer Vielzahl von Proben bis zu einem Vakuumdruck von 1,0 × 10 ^ -4 Torr zu gewährleisten. Dieses Modell verfügt über eine dreistufige Turbo-Molekularpumpe und eine Drehflügelverstärkerpumpe in Kombination mit nassen und trockenen Diffusionspumpen, um einen optimalen Hochvakuumbetrieb zu gewährleisten. Ein Flachbildschirm und ein Touchscreen-Panel bieten eine klare Sicht auf die Instrumentendaten und Steuerungsfunktionen. Das SEM verfügt über einen erweiterten Sekundärelektronendetektor zur Bildgebung und Sammlung hochauflösender Bilder zur Messung von Mikrostruktur, topographischen Merkmalen und elementarer Zusammensetzung in der Probe. Der leistungsstarke Everhart-Thornley-Detektor bietet ein rauscharmes, hochauflösendes Bild mit großer Schärfentiefe. Ein Bordenergiefilter ermöglicht es dem Benutzer, ein Energieband auszuwählen, in dem das Elektronensignal aus der Probe gesammelt wird. Der großformatige Detektor verfügt zudem über eine spezielle Beschichtungseinheit für eine sichere und wiederholbare Probenbeschichtung. S-8820 verfügt außerdem über eine optionale Analysekammer für mikroskopische Proben, mit der sie für die In-situ-Analyse wie EDX, EBSD und WDS verwendet werden kann. Die In-situ-Analysefunktionen ermöglichen dem Anwender eine Echtzeitbeobachtung und Analyse der Probe ohne Unterbrechung der Vakuumumgebung. Die vielseitige Bühne des S 8820 ermöglicht es dem Benutzer, XY, XYZ zu scannen und für Neigung und Rotation sowie Mehrfachsteuerung zu sorgen. Der präzise inkrementelle Schritt ist mit integriertem Einstellbereich, Motorbewegungsgenauigkeit und Geschwindigkeit erhältlich. Insgesamt ist HITACHI S-8820 ein leistungsfähiges, vielseitiges und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop, das ein hohes Maß an Probendetails und eine präzise elementare Zusammensetzungsanalyse ermöglicht. Der fortschrittliche Sekundärelektronendetektor, der Energiefilter und die optionale Analysekammer bieten Benutzern die Möglichkeit, eine Vielzahl von Proben schnell und effektiv zu beobachten und zu analysieren.
Es liegen noch keine Bewertungen vor