Gebraucht HITACHI S-8820 #293621554 zu verkaufen

HITACHI S-8820 Scanning Electron Microscope ist ein SEM, das für ein breites Anwendungsspektrum entwickelt wurde, von der Analyse der elementaren Zusammensetzung organischer oder anorganischer Proben über 3D-Analysen bis hin zur Echtzeit-Abbildung dynamischer Ereignisse. Die leistungsstarke Vergrößerungsoptik, der Sekundärelektronendetektor und der Röntgendetektor garantieren eine hervorragende Präzisionsbildgebung. HITACHI S 8820 Scanning Electron Microscope ist mit mehreren Akquisitionsmodi und erweiterten analytischen Fähigkeiten ausgestattet, wie Sekundärelektronenbildgebung, rückgestreute Elektronenbildgebung, EDS (energy dispersive Röntgenspektroskopie) und EBSD (electron back scattered diffraction). Die leistungsstarke Vergrößerungsoptik des Systems sorgt für Klarheit und Schärfe der Bildgebung, während die geringe Größe der Funktionen im SEM leichter zu beobachten ist. Das Rasterelektronenmikroskop bietet auch die Möglichkeit, dynamische Ereignisse zu beobachten und dreidimensionale Merkmale mit EDX (Energy Dispersive X-Ray) -Mapping zu analysieren. Die Feature-Tracking-Einheit ermöglicht das Studium dynamischer Ereignisse in Echtzeit. Die EBSD-Maschine ermöglicht die Bestimmung der Kornstruktur, Textur und Kristallorientierung. Das Niedervakuumwerkzeug ermöglicht die Abbildung nichtleitender Proben, während die Umwelt- und Beschichtungssysteme die Untersuchung von Umwelteffekten, die Charakterisierung von Grenzflächenreaktionen und die Zugabe und Entfernung von dünnen Beschichtungen ermöglichen. Das optionale In-Lens-Imaging-Asset minimiert die Rückstreuung und verbessert die Gesamtleistung des SEM. Darüber hinaus bietet S-8820 Rasterelektronenmikroskop eine größere Probenkammer für große Proben und ein breiteres Sichtfeld für die Bildgebung. Die hohe Auflösung und der lange Arbeitsabstand ermöglichen die Integration von Mikroskopie und Analysetechniken. Das SCATRAP-Gerät ist eine nützliche Funktion auf dem Modell, die hilft, die Auflösung der Bildgebung durch die Unterdrückung der Auswirkungen von Restgas zu verbessern. Die Atmosphäre der Probenkammer kann kontrolliert werden, um fragile Partikel zu analysieren. S 8820 Rasterelektronenmikroskop bietet viele analytische Fähigkeiten, so dass es ein geeignetes Werkzeug für eine breite Palette von Anwendungen von der Qualitätsprüfung bis hin zu Forschung und Bildungsbereich. Es bietet automatisierte Prozesse wie automatische Ausrichtung, Probenladung und Sub-Sampling.