Gebraucht HITACHI S-8820 #9170906 zu verkaufen

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ID: 9170906
CD Scanning electron microscope (SEM), 8" Substrate type: 8" Silicon wafer / (2) Ports HV Controller MHV PCB NDEF / LENS PS Stage controller EVAC Controller TMP Controller 1, 2 Utility indicator Linear counter COL-CN PCB ST Sensor PCB Linear amp TMP 1, 2 COL-DCPS Ion pump power AV3 Gate valve assy Halogen lamp assy Solanoid assy Bake assy Gun head Stage driver X,Y ION Pump backup Battery VME Rack: ECPU263 COGNEX 4400 PS Disp IMEM EO CONT SIP PCB ECONT SGVA NOMAFC Power supply: EWS UPS NIP PCB IP Power supply unit Main power supply unit Transfer unit ((2) ports): Pre aligner Transfer robot Teaching box Robot controller (2) Vacuum pumps CRT Monitor Transfer box Exhaust line 1994 vintage.
HITACHI S-8820 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sehr detaillierte und genaue visuelle Bilder der mikroskopischen Oberfläche von Materialien liefert. Dieses SEM hat eine breite Palette von Funktionen, so dass es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist, einschließlich Forschung, Produktion und Engineering Qualitätskontrolle, Materialcharakterisierung und Fehleranalyse. Das Gerät ist mit einer kompakten Elektronenquelle und einem hochempfindlichen Mehrkanal-Digitaldetektor ausgestattet, der eine effektive Beobachtung verschiedener Modifikationen und Materialunterschiede bei hohen Vergrößerungen ermöglicht. HITACHI S 8820 Rasterelektronenmikroskop ist mit einer breiten Palette von bildgebenden Funktionen ausgestattet, die Bilder von bis zu 0,6 nm ermöglichen. Das System ist in der Lage, fragile, dreidimensionale Oberflächenstrukturen sowie standardisierte Variablen einschließlich topographischer und dimensionaler Profile anzuzeigen. Weiterhin kann die 3D-Abbildung des Nanoabmessungsbereichs durch die Kombination eines Rückstreudetektors und eines Energiefilterdetektors realisiert werden. Darüber hinaus verfügt das Gerät über eine Beobachtungseinheit, die größere Proben aufnehmen kann, so dass es perfekt für die Beobachtung großer und physikalisch empfindlicher Proben geeignet ist. S-8820 ist mit einem großen GIS und FIB ausgestattet, die zuverlässige und genaue sekundäre Elektronenbildgebung und Elementanalyse Fähigkeiten bietet. Der FIB ist mit einem Energiefilter-Detektor kombiniert, was bedeutet, dass er auch für sehr anspruchsvolle Proben eine ultrahochauflösende Mikrostrukturanalyse durchführen kann. Darüber hinaus kommt S 8820 mit einer Reihe von erweiterten Funktionen, einschließlich Umwelt-SEM, die für die Beobachtung von Materialien unter einer Vielzahl von Einstellungen ermöglicht, einschließlich Vakuum, niedrigen/mittleren Vakuum und atmosphärischen Druck. Insgesamt ist HITACHI S-8820 eine ausgezeichnete Wahl für jeden Forscher oder Ingenieur. Die Maschine verfügt über eine breite Palette von bildgebenden Funktionen, ist in der Lage, Nanoabmessungen abzubilden und kann große und physikalisch empfindliche Proben verarbeiten. Darüber hinaus ist das Tool mit fortschrittlichen Funktionen wie Umwelt-SEM, sekundäre Elektronenbildgebung und Elementanalyse ausgestattet. Mit so vielen Funktionen und Funktionen in einem Paket ist HITACHI S 8820 eine gute Wahl für jede Anwendung.
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