Gebraucht HITACHI S-8820 #9189515 zu verkaufen

HITACHI S-8820 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), ideal zur Analyse von Oberflächentopographie und Defekten. Dieses Instrument kann für eine Vielzahl von Anwendungen wie Halbleiterbewertung, Fehleranalyse und Life-Science-Forschung verwendet werden. HITACHI S 8820 bietet eine breite Palette von Funktionen, die Forschern eine hohe Auflösung, hohe Empfindlichkeit und ausgezeichnete Bildstabilität bieten. Es verwendet eine Feldemissionsquelle, die es ermöglicht, Bilder mit überlegener Auflösung zu erzeugen. Die verschiedenen Kondensatorlinsen bieten ein verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis und ermöglichen eine höhere Bildauflösung. Der erweiterte detektierbare Signalbereich dieses Mikroskops gibt ihm zudem einen riesigen Dynamikbereich und ermöglicht die Beobachtung schwacher Signale sowie die Lieferung eines helleren Gesamtsignals. Es verfügt auch über einen fortschrittlichen Algorithmus für die Elektronenstrahlsteuerung und eine ausgezeichnete Positioniergenauigkeit, wodurch die Bildgebungsleistung stabil und wiederholbar ist. Es zeigt eine beschleunigende Hochleistungsstromspannungsreihe, die Beobachtung von dynamischen Phänomenen wie Oxydation auf Proben berücksichtigend. Mit seiner großen Probenkammer können S-8820 große Probendurchmesser aufnehmen, was eine umfassendere Analyse ermöglicht. S 8820 bietet zudem hervorragende Datenanalysefunktionen. Es verfügt über eine Vielzahl von Funktionen, die durch die digitale Signalverarbeitung gesteuert werden können, wie Subtraktion und Addition von Bildern. Außerdem ermöglichen die rechnergesteuerte Stufe und die Strahlabtastung eine einfache Messung des Tiefenprofils, was bei der Einbeziehung eines motorisierten Fokussystems weiter unterstützt wird. Die automatische Fokussierung kann so eingestellt und angepasst werden, dass sie der Probenoberfläche entspricht und die Bild- und Messergebnisse optimiert. Insgesamt ist HITACHI S-8820 ein ausgezeichnetes Rasterelektronenmikroskop, das Forschern klare und detaillierte Einblicke in ihre Proben verschaffen kann. Seine Feldemissionsquelle, sein motorisiertes Fokussystem und seine leistungsstarken Datenanalysefunktionen geben ihm die Möglichkeit, genaue und hochauflösende Bildgebungsleistung zu liefern.