Gebraucht HITACHI S-8820 #9266109 zu verkaufen

Das HITACHI S-8820 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein hochmodernes Instrument für die Forschung in der Elektronenmikroskopie. Es wird zur Probenbeobachtung und Analyse von Proben in hoher Auflösung und räumlicher Genauigkeit mit überlegener Flexibilität und breitem Einsatzbereich verwendet. HITACHI S 8820 SEM eignet sich für eine breite Palette von Materialien und Anwendungen, einschließlich mikrostruktureller Bildgebung, nanoskalige Elektronenbeugung, elektrische Charakterisierung und eine Vielzahl anderer Felder. S-8820 bietet durch seine hochauflösende Feldeffekt-Winkelpistole, die fein fokussierte Elektronenstrahlen erzeugen kann, hervorragende Kontrastbildfunktionen. Die Pistole hat eine einstellbare Energie von bis zu 5kV und einen geringen Arbeitsabstand von 10 Nanometern zwischen der Probenoberfläche und der elektronenoptischen Säule. Seine athermalen Feldemissionsspitzen ermöglichen eine weitere Anpassung des Strahlprofils, um einen optimalen Bildkontrast und eine optimale Auflösung zu erzielen. Die Probenstufe ist präzise und stabil und ermöglicht eine definierte Probenkammer, auch bei größeren Flächen. S 8820 verfügt über integrierte erweiterte automatisierte Funktionen für wiederholbaren, zuverlässigen Betrieb. Seine automatische Probenausrichtung und Bildstichfunktionen erleichtern die schnelle und einfache Erfassung hochauflösender Bilder von großflächigen Proben. Das Mikroskop verfügt auch über eine leistungsstarke Software-Suite, um die Probenorientierung und Datenerfassung zu erleichtern. Zusätzlich zu seinen bildgebenden Fähigkeiten ist HITACHI S-8820 SEM mit Metallabscheidung, (C) LABS-, EDS- und EBSD-Detektoren ausgestattet, die eine elementare und strukturelle Analyse von Proben ermöglichen. Die ultrahohe Vakuumfähigkeit und die geringe Driftelektronik ermöglichen zuverlässige Analysen auch von empfindlichen Proben mit empfindlichen Oberflächenmerkmalen. Darüber hinaus verfügt das System über eine fortschrittliche Kollisionsvermeidungstechnologie, die selbst bei hochauflösenden Bildgebungs- oder Strukturanalysen einen Probenschaden verhindert. Insgesamt ist HITACHI S 8820 ein ausgezeichnetes Rasterelektronenmikroskop für fortgeschrittene Forschungsanwendungen. Die Kombination aus hochauflösenden Bildgebungsfähigkeiten, automatisierten Funktionen, EDS/EBSD-Analyse, Metallabscheidung, (C) LABS und Kollisionsvermeidungstechnologien bietet Anwendern ein leistungsfähiges Werkzeug, um Probenmorphologien und -strukturen klarer und detaillierter als je zuvor zu untersuchen.