Gebraucht HITACHI S-8820 #9266234 zu verkaufen

HITACHI S-8820 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein High-End-Benchtop-Modell, das weltweit in einer Vielzahl wissenschaftlicher Forschungsbereiche eingesetzt wird. Das Mikroskop verwendet eine Feldemissionskanone (FEG) in Kombination mit einem fortschrittlichen Detektionssystem, um hochauflösende Bilder von Proben bei Vergrößerungen zwischen 1.000 und 300,000X zu erhalten. SEMs wie HITACHI S 8820 bieten eine Fülle topographischer und chemischer Analysen über die Oberfläche von Proben in verschiedenen Bereichen von der medizinischen Wissenschaft bis zur Materialwissenschaft. Die FEG des Instruments ist für die Genauigkeit und Präzision des Bildes von entscheidender Bedeutung. Das FEG emittiert einen schmalen Elektronenstrahl, wobei der Durchmesser des Strahls umgekehrt proportional zur Strahlspannung ist. Der Durchmesser des Elektronenstrahls bestimmt auch die Auflösung des Bildes; kleinere Strahldurchmesser ermöglichen Bilder höherer Auflösung. S-8820 FEG arbeitet bei 3KV, 5KV und 10KV und einem „Hochvakuum“ -Modus von 1KV und bietet eine überlegene Kontrolle über den Elektronenstrahl. S 8820 Scanning Electron Microscope verwendet ein fortschrittliches Detektionssystem für optimale Bildqualität. Eine Vielzahl von Detektoren fangen zusammen die reflektierten Elektronen aus der Probe, dem Volumen oder der Oberfläche der Probe ein und liefern viel mehr Daten als ein herkömmliches optisches Mikroskop. HITACHI S-8820 liefert einen SE-Signaldetektor, der die Anzahl der elektronenreflektierten Signale mit hoher Genauigkeit misst, sowie einen BackScattered Electron Detector (BSD) zur verbesserten Element- und Oberflächenmerkmalsanalyse und einen Secondary Electron Detector (SED) mit stufenloser Spannung. HITACHI S 8820 Scanning Electron Microscope enthält einen sekundären Elektronenbildmodus, der einen tiefen Blick auf das Make-up und die Struktur einer Probe bietet, ohne dass Probe prep.This Modus of Operation ermöglicht eine schnelle Abbildung von porösen, faserigen und unregelmäßigen Proben. Darüber hinaus verfügt S-8820 über einen Umgebungs-SEM (ESEM) -Modus, mit dem hydratisierte oder weiche Materialien abgebildet werden können, ohne dass eine Oberflächenvorbereitung oder eine Oberflächenbeschichtung erforderlich ist. Dieser Modus ermöglicht es Benutzern, Objekte in ihrem nativen Zustand zu erfassen, was genauere Ergebnisse liefert. Dank der Flexibilität und Reichweite des S 8820 lässt er sich nahtlos in jedes Labor integrieren. Das benutzerfreundliche Design und die automatisierten Funktionen des Mikroskops geben Wissenschaftlern die Freiheit, ihre Forschung auf die für ihr Projekt günstigste Weise durchzuführen. Die hochmodernen Tomographie- und 3D-Bildgebungsfunktionen ermöglichen eine beispiellose Struktur- und Qualitätsanalyse. In Verbindung mit der hohen Auflösung und der einfachen Benutzeroberfläche bietet HITACHI S-8820 Wissenschaftlern ein unschätzbares Werkzeug für professionelle Forschung.