Gebraucht HITACHI S-8820 #9389824 zu verkaufen

HITACHI S-8820 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein hochauflösendes Bildgebungs- und Analysegerät, das leistungsstarke Werkzeuge für die Hochgenauigkeit und Hochgeschwindigkeitsanalyse einer Vielzahl von Materialien bereitstellt. Mit seiner hohen Auflösung und niedrigen Betriebsspannung eignet sich HITACHI S 8820 zur Analyse sowohl konventioneller als auch nichtleitender Proben. Ausgestattet mit schnellem Scannen, Bildspeicherung und großer Kammergröße, ist S-8820 ein sehr vielseitiges System, das verwendet werden kann, um eine Vielzahl von Aufgaben in einer Vielzahl von angewandten Bereichen zu erfüllen. S 8820 verwendet eine Kombination aus einer großen Kammer und einer hochelektrostatischen Linseneinheit, um eine extrem hochauflösende Bildgebung und Analyse zu erzielen. Die große Kammer bietet ein breites Sichtfeld und die hochauflösende elektrostatische Linsenmaschine sorgt für genaue Vergrößerungen und die Abbildung feiner Details. Die hochauflösenden Funktionen von HITACHI- S-8820 werden durch einen Rasterstrahlablenker bereitgestellt, der es dem SEM ermöglicht, mit herkömmlichen Lichtmikroskopen schwer zu beobachtende Details zu erkennen. HITACHI S 8820 verfügt zudem über einen automatisierten Probenzuführer, mit dem mehrere Proben ohne manuellen Eingriff schnell gescannt werden können. Die Zuführung verwendet ein Niederspannungs-Auto-Scan-Tool, das schnelle Analysen von Proben ermöglicht. Das Exemplar wird auf den Probenzuführer geladen und das automatische Scanobjekt aktiviert. Das Modell beginnt dann mit dem Scannen der Probe und die Daten werden dann extrem schnell verarbeitet und analysiert. S-8820 verfügt auch über eine fortschrittliche Analyseausrüstung, die eine anspruchsvolle Bildgebung und Analyse verschiedener Materialien ermöglicht. Das System ist in der Lage, Eigenschaften wie Oberflächentopographie, Oberflächenrauhigkeit, Korngröße und andere in der Materialanalyse wichtige Eigenschaften zu erfassen und zu messen. Das Gerät verfügt außerdem über ein ausgeklügeltes Bildverarbeitungs-Toolkit, das 3-dimensionale Rekonstruktionen und Messungen von Oberflächenmerkmalen ermöglicht. Insgesamt ist das S 8820 Rasterelektronenmikroskop eine ideale Wahl für die Hochgenauigkeits- und Hochgeschwindigkeitsanalyse einer Vielzahl von Proben. Seine große Kammergröße, fortschrittliche automatische Probenzuführung und hochauflösende elektrostatische Linsenmaschine machen es zu einer attraktiven Option für erweiterte Bildgebungs- und Analyseaufgaben. Die erweiterten Analysefunktionen, das Toolkit für die Bildverarbeitung und die schnellen Scanfunktionen stellen sicher, dass HITACHI S-8820 zuverlässige Daten für eine Vielzahl von Anwendungen bereitstellt.