Gebraucht HITACHI S-8820S #9265147 zu verkaufen

ID: 9265147
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1995
Scanning Electron Microscope (SEM), 8" 1995 vintage.
HITACHI S-8820S ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das überlegene hochauflösende Leistung mit fortschrittlichen digitalen Bildgebungsfunktionen kombiniert. Mit Elektronen erzeugt das Instrument hochauflösende Bilder der Probenoberfläche. Die vom SEM erzeugten Bilder können von Vergrößerungen von 20.000x bis 120.000x reichen und bieten eine detaillierte Ansicht der Oberfläche der Probe bis zum atomaren Niveau. HITACHI S-8820 S verfügt über ein einzigartiges duales Elektronenstrahlsystem, das einen effizienteren bildgebenden Prozess schafft. Es verfügt über zwei Elektronenkanonen, die die Energie und Position des Strahls für eine genauere Probenbildgebung erzeugen und steuern. Das Instrument weist außerdem einen Elektronendetektor auf, der die von der Oberfläche der Probe gestreuten Elektronen erfasst und in ein Signal umwandelt, mit dem dann ein Bild der Probe erzeugt wird. Ein Multikoinzidenzpol-Subsystem in Kombination mit einer Gleichstrompistole und einem Energiefilter stimmt die Sendestrahl- und Abtastposition zur präzisen Bildsteuerung fein ab. S 8820 S verfügt über eine Reihe von digitalen Bildgebungsfunktionen, mit denen Bilder einfach erfasst und verarbeitet werden können. Digitale Bildgebungstechniken wie Sekundärelektronenbilder (SEI), rückgestreute Elektronenbilder (BSE) und Kathodolumineszenzbilder (CL) bieten einen erhöhten Kontrast und eine erhöhte Helligkeit, wodurch Probenmerkmale besser identifiziert und die Quantifizierung von Probenkomponenten unterstützt werden können. S-8820 S bietet auch eine Reihe benutzerfreundlicher Software, die den Betrieb vereinfacht und die Datenanalysefunktionen verbessert. Die intuitive Software ermöglicht es Benutzern, Bildaufnahmeparameter einfach einzurichten und zu speichern, die Bildqualität zu optimieren, elektronenmikroskopische Daten zu analysieren und andere Operationen durchzuführen. Die Software kann auch verwendet werden, um Bilddateien zuzuordnen und Dual-Beam und elektronenoptische Operationen durchzuführen. Darüber hinaus verfügt HITACHI S 8820 S über eine integrierte automatisierte Stufe zum Scannen von Proben bis zu einer Größe von 6 "(15 cm). Die Stufe bietet fünf Freiheitsgrade, die eine präzise Einstellung der Probenposition ermöglichen. Die automatisierte Stufe verfügt über eine große Probenkammer, die ein erweitertes Scannen ohne Verlust der Detektorfunktion ermöglicht. S-8820S ist ein effektives und fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das sich ideal für eine Reihe von wissenschaftlichen und pädagogischen Anwendungen eignet. Dank des Doppelelektronenstrahls, der digitalen Bildgebungsfunktionen und der intuitiven Software kann mit Genauigkeit und Leichtigkeit geforscht werden.
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