Gebraucht HITACHI S-8840 #9077721 zu verkaufen

HITACHI S-8840 ist eine SEM-Ausrüstung (Rasterelektronenmikroskopie), die mit hoher Präzision betrieben wird und eine Vielzahl von Anwendungen ermöglicht. Es ist vorteilhaft für die Inspektion der Oberflächenstruktur einer Probe, die Messung von Nanometergrößenmerkmalen mit großer Genauigkeit und die Charakterisierung elektrischer und chemischer Eigenschaften von Materialien. HITACHI S8840 bietet sowohl hohe Leistung als auch qualitativ hochwertige bildgebende und analytische Funktionen. Dieses fortschrittliche System verfügt über eine integrierte Hochvakuumeinheit, die einen Hochvakuumbetrieb ermöglicht. Dies ermöglicht eine höhere Auflösung und verbesserte analytische Leistung. Darüber hinaus ermöglichen die Niedrig- und Mittelvakuum-Modi eine zerstörungsfreie Abbildung von Oberflächen- und nichtleitenden Materialien. S 8840 enthält mehrere Arten von Detektoren, einschließlich sekundärer und rückgestreuter Elektronendetektoren, einen Hochleistungs-Energie-dispersiven Röntgen- (EDX) -Detektor und einen integrierten hochempfindlichen Faraday-Becher. Gemeinsam können diese Detektoren eine Vielzahl von Elektronen- und Röntgensignalen erfassen. Der EDX-Detektor ist besonders leistungsstark und ermöglicht eine elementare Analyse der Probe bei atomarer Auflösung. Der Hochleistungs-Faraday-Becher ermöglicht eine genaue Analyse von schwachen sekundären und rückgestreuten Elektronensignalen, während die Aufladung der Probe minimiert wird. HITACHI S 8840 verfügt auch über eine hochauflösende Feldemissionskanone (FEG), mit der eine höhere Auflösung erreicht werden kann. FEG ermöglicht qualitativ hochwertige Sub-Nanometer-Bildgebung und High-Speed-Scanning-Bildgebung mit bis zu 0,75 Millisekunden pro Bild. Darüber hinaus ist S-8840 für fortgeschrittene Anwendungen wie In-situ-Mikromanipulation, In-situ-chemische Analyse und Echtzeit- 3D-reconstruction bestens gerüstet. In-situ Mikromanipulation ermöglicht eine präzise Kontrolle der Probe und anschließende Analyse. Mit der chemischen Analyse in situ kann eine direkte chemische Analyse einer Probe in der SEM-Kammer durchgeführt werden, wobei die Probe in situ platziert wird, wodurch vermieden wird, dass sie in eine separate Analysekammer verschoben werden muss. Mit Echtzeit- 3D-reconstruction werden hochpräzise 3D-Bilder erzeugt, indem Bilder der Probenoberfläche beim Drehen aufgenommen werden. Schließlich verfügt S8840 über eine innovative automatische Schattierungskorrekturfunktion, die die Detektorverstärkung automatisch anpasst und eine qualitativ hochwertigere Abbildung ungleichmäßiger Oberflächen ermöglicht. Kurz gesagt, HITACHI S-8840 ist eine fortschrittliche Rasterelektronenmikroskopie-Maschine mit einer breiten Palette von Funktionen und Fähigkeiten. Dank seines integrierten Vakuumwerkzeugs und verschiedener Detektoren bietet es hervorragende bildgebende Qualität und elementare Analysefähigkeiten. Seine erweiterten Funktionen machen es zu einer idealen Lösung für hochpräzise Oberflächenmessungen und Charakterisierung.