Gebraucht HITACHI S-8840 #9211128 zu verkaufen

HITACHI S-8840 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein vielseitiges und benutzerfreundliches Analysewerkzeug, das für die Forschung und Qualitätssicherung in verschiedenen Bereichen eingesetzt werden kann. Dieses SEM ist ideal für die Analyse von Materialien im Nanobereich einschließlich Mikrographen und 3D-topographischen Messungen. Es bietet mit seiner 15 cm großen Kammer einen großen Funktionsumfang und eine hochauflösende Bildgebung, die die Prüfung empfindlicher Mikrostrukturen ermöglicht. HITACHI S8840 ist mit einer Auswahl an Detektoren, Objektiven und Bühnen ausgestattet, die eine Vielzahl von Operationen und Abbildungsmodi ermöglichen. Eine geringe Vergrößerung und eine Reihe von Bühnenbewegungen bieten bequeme und genaue Messungen einer Vielzahl von Proben. Die hochauflösenden bildgebenden Funktionen und die vielseitige Handhabung von Proben sorgen dafür, dass Proben detailliert untersucht werden können. S 8840 verfügt auch über einen Standard-Fotoadapter, der die Möglichkeit bietet, Bilder aufzunehmen und zu speichern oder sogar Filmprozesse oder Proben in Bewegung zu filmen. S-8840 ist mit der neuesten Rasterelektronenmikroskop-Technologie und integrierten Funktionen ausgestattet Inklusive passiver Schwingungsisolierung, Autofokus und automatisiertem Be- und Entladen von Proben. Seine benutzerfreundlichen Funktionen wie Fernbedienung, Autofokus, Bildnähte und Bildverarbeitung ermöglichen eine effiziente und einfache Bedienung, die schnell erlernt werden kann. Dieses SEM-System verfügt auch über eine Reihe von Signalausgängen, einschließlich Video, Digital, XY-Recorder und analog. Dies ermöglicht eine breite Palette von Analysen, einschließlich elementarer Kartierung und Ultraniederspannungsbilder, um nichtleitende Proben zu visualisieren. Weitere Komponenten wie Kippstufen, Infrarotkameras, variable Drucksysteme und Elektronenstrahl-Lithographie runden ihre vielfältigen Möglichkeiten ab. Zusammenfassend ist HITACHI S 8840 Scanning Electron Microscope ein vielseitiges und einfach zu bedienendes System. Es liefert hochauflösende Bildgebung, die eine genaue Inspektion empfindlicher Proben im Nanoskala ermöglicht. Es umfasst auch eingebaute Bequemlichkeiten und Funktionen, die die Vielseitigkeit und Effizienz verbessern. Dieses Desktop-SEM ist eine ausgezeichnete Wahl für viele Arten von Forschungs- und Qualitätssicherungsanwendungen.