Gebraucht HITACHI S-8840 #9236032 zu verkaufen

HITACHI S-8840
ID: 9236032
Wafergröße: 12"
Scanning Electron Microscope (SEM), 12".
HITACHI S-8840 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, hochauflösende Bilder zu erzeugen und die Oberfläche fester Proben zu analysieren. Dieses fortgeschrittene Mikroskop verwertet einen hochauflösenden everhart-thornley Typ sekundärer Elektronentdecker, der Bilder mit einer seitlichen Entschlossenheit 0.9nm erzeugt und sekundäres Elektron bis zu 98% gegenüberstellen. Dieses Instrument ist auch mit einem Wolfram-Filament-Röntgengenerator ausgestattet, der bis zu 30kV Beschleunigungsspannung und 9,1 nm Pd-basierten Source-Detektor-Abstand erzeugen kann. Dies ermöglicht eine schnelle Röntgenaufnahme sowie eine hohe Energieauflösung. Dieses Mikroskop ist eine Vakuumausrüstung, die eine integrierte Vakuumkammer und eine Kammerpumpe zur Erzeugung einer Ultrahochvakuumumgebung aufweist. Dadurch kann das Instrument dank minimalem Hintergrundrauschen qualitativ hochwertige Bilder erzeugen. Der Probenhalter ist auch in der Lage, 10kas Bestrahlungsdosis widerstehen, so dass der Benutzer eine breite Palette von Materialien und Proben zu studieren. HITACHI S8840 verfügt zudem über ein neues dreidimensionales E-Beam-Kontrollsystem, mit dem der Benutzer den Elektronenstrahl präzise steuern und hochgenaue Bilder erfassen kann. Diese Einheit ist in der Lage, die Probe beim Kipp-, Dreh- und sogar Vergrößerungswechsel zu verfolgen. Darüber hinaus sind die variablen Astigmatismus- und Raumfiltersysteme darauf ausgelegt, Rauschen drastisch zu reduzieren und die Bildqualität zu erhöhen. Schließlich ist dieses SEM auch mit einer Bit MIDI/PAR (Pixel Area Readout) Maschine ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglicht, Pixel in einem digitalen mosaikähnlichen Muster zu beobachten. Dieses Tool ermöglicht es dem Benutzer, hochauflösende Bilder auch in den kleinsten Abschnitten der Probe zu erhalten. Die Kombination all dieser Merkmale ermöglicht S 8840, außergewöhnliche hochauflösende Bilder zu erzeugen, die klare, detaillierte Informationen für die Untersuchung von Materialien und Oberflächen liefern können.
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