Gebraucht HITACHI S-9200 #293606930 zu verkaufen

HITACHI S-9200
ID: 293606930
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
HITACHI S-9200 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für fortgeschrittene bildgebende Anwendungen in der Materialwissenschaft und Halbleiterproduktion. Angetrieben wird dieses Mikroskop durch seine in-column, double-tilt, Magnetfeld Emission Elektronenkanone, die einen Low-Energy-Fokus-Spot erzeugt, der ideal für Low-kV-Bildgebung ist. Die hohe Auflösungsleistung dieses SEM wird durch seine einzigartige optische Ausrüstung erreicht, die eine Vielzahl weiterer Merkmale umfasst, wie eine Objektivblende, ein Multimodus-Bildaufnahmesystem, eine integrierte Scantrift-Korrektur und die Fähigkeit, Objekte zu fokussieren, die sich nahe dem Rand des Blickfeldes oder außerhalb des Fokus befinden. Die fein abgestimmte optische Einheit von HITACHI S 9200 umfasst die proprietäre High Mag Stabilization (HMS) Technologie. Diese erweiterte Funktion gewährleistet eine extrem stabile und zuverlässige SEM-Bildgebung, auch bei schnell veränderbaren Parametern. Die hochpräzisen optischen Komponenten, zusammen mit der fortschrittlichen Elektronenquelle und dem optimierten Raum rund um die Probe, ermöglichen dem Mikroskop eine beeindruckende Auflösung bis zu 0,2 nm bei einer Strahlstrombegrenzung von 30kV und einer Beschleunigungsspannung unter 30kV. Der In-Column-Energiefilter des Mikroskops ist in eine hohe RAMA-Vorbeschleunigungstechnologie integriert, die den Kontrast sowohl bei der Licht- als auch bei der Dunkelfeldabbildung verbessert und gleichzeitig die Klarheit bei der Abbildung überlappender Komponenten beibehält. Darüber hinaus verfügt S-9200 über einen automatisierten Sekundärelektronen-Unterdrücker sowie einen zusätzlichen Strahlkontrast-Steuerstecker, der in der Lage ist, mehrere Kontraste abzubilden. S 9200 verfügt über eine Reihe von Monitoren, wie einen Punktintensitätsmonitor, einen Strahlausrichtungsmonitor, einen Dosismonitor und einen Probenkippmonitor, für maximale Sicherheit und Leistungskontrolle. Die dem Anwender zur Verfügung stehenden Steuerungsmöglichkeiten umfassen einen ergonomischen Griff mit Fingerspitzen und eine einfach zu bedienende Softwareschnittstelle, die eine Vielzahl von SEM-Bildgebungstechniken wie Backscatter, Topographie, Indexierung, EDS und Composites bietet. HITACHI S-9200 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das sich sowohl für die Materialwissenschaft als auch für die Halbleiterproduktion eignet. Seine einzigartige optische Maschine und seine beeindruckende Reihe von Funktionen kombinieren, um extrem genaue und hochauflösende SEM-Bildgebung für analytische und Forschungsanwendungen zu bieten. Aufgrund seines innovativen Designs ist HITACHI S 9200 in der Lage, höchste Bildqualität für verschiedenste Anwendungen zu erzeugen.
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