Gebraucht HITACHI S-9200 #9170207 zu verkaufen

HITACHI S-9200
ID: 9170207
Wafergröße: 8"
CD Scanning electron microscope (SEM), 8".
Das HITACHI S-9200 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein hochpräzises Werkzeug zur Bildgebung und Analyse der Oberflächen von festen Proben auf Submikron-Niveau. Es kann für eine Vielzahl von Forschungs- und Entwicklungsanwendungen wie Materialanalyse, Fehleranalyse und Fehlererkennung, Reverse Engineering und mehr verwendet werden. Das Gerät bietet durch sein einzigartiges Elektronenoptik-Design eine hochauflösende Bildgebung und eine hervorragende Oberflächenempfindlichkeit. HITACHI S 9200 verwendet eine asymmetrische elektrostatische Linse, um ein größeres U-Feld zu bilden, was zu einer kürzeren Fokustiefe und einer höheren Auflösung führt. Das Gerät verfügt auch über eine breite Palette von Detektorsystemen, darunter mehrere Sekundärelektronendetektoren und einen Röntgendetektor, die hochpräzise Bildgebung in verschiedenen Anwendungen ermöglichen. S-9200 ist mit einem leistungsstarken Scansystem ausgestattet, mit dem das Gerät Probenbereiche bis zu einer Breite von 300 mm scannen kann. Dies macht das Gerät für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet, einschließlich Hochdurchsatz-Materialanalyse und Reverse Engineering von großen Komponenten. Das Gerät verfügt außerdem über eine vakuumarme Kammer, die die Probenhaltung und eine hochempfindliche Wiederaufladungsdetektormaschine gewährleistet und eine Analyse von Proben ermöglicht, die nicht in anderen SEMs abgebildet werden können. S 9200 ist einfach zu bedienen und seine verschiedenen Funktionen sind über seine intuitive Steuerungssoftware leicht zugänglich. Es verfügt über eine umfassende Suite von Bildverarbeitungs- und Datenanalysetools, mit denen Benutzer ihre Bilder in Echtzeit anzeigen, messen und ändern können. Das Tool enthält auch optionale Automatisierungs- und Gesamtautomatisierungsfunktionen, die für Benutzer hilfreich sein können, die mehrere Proben schnell und genau messen müssen. Insgesamt ist HITACHI S-9200 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine hochauflösende Bildgebung und ausgezeichnete Oberflächenempfindlichkeit bietet. Dank seiner leistungsstarken Funktionen und der intuitiven Benutzeroberfläche ist es eine gute Wahl für Forscher und Ingenieure in einer Vielzahl von Bereichen, von der Materialanalyse bis zum Reverse Engineering.
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