Gebraucht HITACHI S-9220 #293608917 zu verkaufen

HITACHI S-9220
ID: 293608917
Wafergröße: 8"
Critical Dimension Scanning Electron Microscopes (CD-SEM), 8".
HITACHI S-9220 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse elektrischer und mechanischer Komponenten. Dieses hochmoderne Mikroskop verfügt über eine hohe Geschwindigkeit, ein großes Sichtfeld, eine hohe Umgebungsstigmation und einen großen Scanbereich, der eine umfassende Untersuchung und Analyse von Komponenten ermöglicht. HITACHI S9220 bietet eine breite Palette von bildgebenden Funktionen, und sein fortschrittliches Design ermöglicht eine schnelle und genaue Datenerfassung. S 9220 ist mit einer automatisierten Bühne ausgestattet, die eine präzise Positionierung und Manipulation von Proben und eine automatisierte Ausrichtung auf den Elektronenstrahl ermöglicht. Es ist in der Lage, große Flächen schnell und präzise abzutasten, mit einem Vergrößerungsbereich, der Anwendungen in der Halbleitertechnik, Kontaminantenanalyse und vieles mehr bietet. Es ist auch mit einer mehrstrahligen optimalen Elektronenkanone sowie mehreren Detektorsystemen ausgestattet. S-9220 verfügt auch über einen hochauflösenden Sekundärelektronendetektor, der Benutzern die Möglichkeit gibt, Funktionen wie Risse, Verunreinigungen und Verunreinigungen abzubilden. Sein rückgestreuter Elektronendetektor mit niedriger Energie bietet eine Vielzahl von Abbildungsmodi, wodurch er geeignet ist, die Oberflächenzusammensetzung von Proben zu untersuchen und ihre chemische Zusammensetzung zu bewerten. Darüber hinaus ermöglicht der Scherkraft- und Querkraftmodus dem Benutzer die Identifizierung und Messung der physikalischen Eigenschaften von Proben, wie Härte bzw. Jungmodul. HITACHI S 9220 beinhaltet neben seinen Elektronenbildfähigkeiten auch ein hochwertiges optisches System mit sowohl reflektiertem als auch durchgelassenem Licht. Dies bietet eine höhere Detailtreue, während Benutzer 3-dimensionale Funktionen anzeigen und messen können. S9220 umfasst auch einen hochpräzisen Neigungsmechanismus, mit dem Benutzer die Form und Eigenschaften von Bottom-Up-Oberflächen untersuchen können. HITACHI S-9220 nutzt auch fortschrittliche Software zur Bildgebung, Analyse und Quantifizierung von Daten. Diese Software ermöglicht es dem Benutzer, Bilder zu manipulieren, Konturen zu erzeugen, Karten zu erstellen und eine Vielzahl von Funktionen zu messen. Neben der Bereitstellung von bildgebenden Funktionen ist HITACHI S9220 auch mit Probenmanipulationsmerkmalen wie einer Kohlendioxidpistole für das Metallsputtern oder einer Sloshing-Station für die Beschichtung von Proben mit Schutzschichten ausgestattet. Darüber hinaus ermöglicht die Software auch die Fernsteuerung des Mikroskopiesystems von jedem Computer aus, was den Benutzern große Flexibilität bietet. Insgesamt ist S 9220 ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das sowohl eine hochauflösende Bildgebung als auch eine Analyse von Proben ermöglicht. Durch die Kombination mehrerer bildgebender Funktionen, Probenmanipulation und Fernbedienungssoftware können S-9220 verwendet werden, um komplexe Untersuchungen effizient und präzise durchzuführen und so unschätzbare Daten für Forscher bereitzustellen.
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