Gebraucht HITACHI S-9220 #9041829 zu verkaufen

HITACHI S-9220
ID: 9041829
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) Type: SMIF.
HITACHI S-9220 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um eine qualitativ hochwertige Bildgebung und Merkmalserkennung in einem kompakten Gehäuse bereitzustellen. Dieses Rasterelektronenmikroskop wurde speziell für die Bildgebung und Merkmalserkennung auf nanoskaligen Ebenen entwickelt und ist ein zuverlässiges und genaues Werkzeug. Es ist in der Lage, qualitativ hochwertige, sensible Bildgebung sowohl topographischer als auch elementarer Merkmale auf nanoskaliger Ebene bereitzustellen. HITACHI S9220 hat eine Auflösung von 0,6 nm bei 5kV mit einer Vergrößerung von 50.000 mal im Scan-Modus. Die Probengröße beträgt etwa 12mm im Durchmesser, so dass größere Proben und Proben in größeren Details abgebildet werden können. In Bezug auf den Betrieb verfügt S 9220 über eine integrierte automatisierte Scanausrüstung für schnelleres und präziseres Scannen. Für Vielseitigkeit hat es sowohl rückgestreute Elektronen- und Sekundärelektronenbildgebung, als auch Einzel- und Mehrfachpunkt-Stop-Detektion. In Bezug auf die Bildgebung enthält S-9220 eine Vielzahl von Abbildungsmöglichkeiten, wie einen rückgestreuten Elektronendetektor (BE), einen Sekundärelektronendetektor (SE) und eine Mehrfachpunkt-Stop-Detektion. Der SE-Detektor liefert scharfe Bilder von leichteren Elementen bei höheren Auflösungen, während der BE-Detektor topographische Informationen zum besseren Verständnis der Oberflächenstruktur einer Probe bereitstellt. Die Mehrfachpunkt-Stop-Detektion ermöglicht die genaue Lokalisierung von Eigenschaften nanoskaliger Größe. Darüber hinaus verfügt HITACHI S 9220 über ein integriertes motorisiertes Scansystem für schnelleres und präziseres Scannen. S9220 ist aufgrund seiner Feldemissionsquellentechnologie auch in der Lage, nichtleitende Proben wie Polymere abzubilden. Es verfügt über einen fokussierenden Sekundärelektronendetektor, der eine bessere räumliche Auflösung und eine verbesserte Abbildung kleiner Merkmale ermöglicht. HITACHI S-9220 verfügt zudem über eine automatisierte Probenvorbereitungsumgebung, die es ermöglicht, Chargenproben sofort vorzubereiten. Die automatisierte Feature Mapping-Technologie macht es einfach, Funktionen genau zu erkennen und abzubilden, was für Qualitätskontrollanwendungen von Vorteil ist. Schließlich verfügt HITACHI S9220 über eine benutzerfreundliche Oberfläche und intuitive Bedienelemente, so dass sowohl Anfänger als auch erfahrene Bediener problemlos bedienen können. Darüber hinaus stehen eine breite Palette von Zubehör zur Verfügung, um in die Montageeinheit des Mikroskops für verschiedene Experimente wie einen Niedervakuumadapter, einen Hochvakuumadapter, eine Drehstufe, eine Kippstufe, einen Energiewähler und eine optische Videomaschine zu passen. Dieses Zubehör bietet die Flexibilität, Experimente mit verschiedenen Bedingungen durchzuführen und Ergebnisse genau zu analysieren.
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