Gebraucht HITACHI S-9220 #9088331 zu verkaufen

HITACHI S-9220 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für hochpräzise bildgebende und analytische Analysen verwendet wird. CTEM (creative transmission electron microscopy) imaging kann angewendet werden, um die Mikrostruktur von Proben in drei Dimensionen zu beobachten, um detaillierte Informationen zu erhalten. Daneben stehen ein energiedispersiver Röntgenspektrometrie (EDX) -Detektor zur Elementanalyse der Probe in einer Querschnittsansicht und ein WDS (Wellenlängen-dispersives Röntgenspektrometer) -Detektor zur Zusammensetzungsanalyse der Probe zur Verfügung. Die höchste Vergrößerung des Systems erreicht 500.000x. Eine derart hohe Vergrößerung ermöglicht die Beobachtung von Materialien auf atomarer/nanoskaliger Ebene. Die Beobachtung einer Vielzahl von Proben einschließlich Metallen, Keramiken, Polymeren, Halbleitern, Bauelementen, Biomaterialien usw. wird durch die große Vakuumkammer mit einer maximalen Probengröße von 200 mm ermöglicht. Die 4-Achsen-Stufe ist in der Lage, eine maximale Geschwindigkeit von 0-4 °/sec. Der Einbau eines Autofokussierungssensors sorgt für eine genaue Fokussierung auf unterschiedliche Probenstärken. Die Ultralow-Vakuumfucntion gewährleistet eine geringe Aufladung von Proben mit extrem niedrigen Temperaturen, was für die Beobachtung organischer Materialien von Vorteil ist. Das hochauflösende CCD-Kamerasystem erfasst klare Bilder und Videos des Objekts. Die aus dem Bild wiedergegebene Farbe ist natürlich, was eine quantitative Auswertung und präzise Analyse erleichtert. Die Software steuert die Spannung sowie Elektronenstrahlkoordinaten. Es kann für die tomographische Rekonstruktion verwendet werden, es erhöht den Kontrast und mehr. Die Strahlspannung von HITACHI S9220 reicht von 1,9 bis 20 kV. Es ist mit einem Hochverstärkungsdetektor zur sehr empfindlichen Detektion von Strahlungszahlen von Röntgenstrahlen und elastisch gestreuten Elektronen sowie rückgestreuter Elektronenbildgebung ausgestattet. Kurz gesagt, S 9220 ist ein fortschrittliches, hochpräzises Rasterelektronenmikroskop. Es bietet weitreichende Beobachtungsfunktionen mit höchster Genauigkeit, die eine quantitative Auswertung und genaue Analyse von Proben auf Atom- und Nanoskala-Niveau ermöglichen. Es ist ein leistungsfähiges Werkzeug für eine Vielzahl von Forschung und Anwendungen.