Gebraucht HITACHI S-9220 #9099556 zu verkaufen

HITACHI S-9220 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hochauflösende Abbildung von Oberflächen- und Querschnittsmerkmalen ermöglicht. Mit seinem einzigartigen integrierten Multi-Focus Ion Beam (FIB) Modul ist HITACHI S9220 in der Lage, Präzisionsfräsen, Bildgebung, Dünnschichtabscheidung und andere innovative Materialanalysetechniken durchzuführen. Das System ist mit einer Elektronenquelle und einem Betrachtungs- und Abbildungssystem ausgestattet. Die Elektronenquelle erzeugt hochenergetische Elektronen aus einem Wolframfaden. Die Elektronen werden dann durch zwei elektrostatische Fokussierlinsen beschleunigt und auf die Probenoberfläche fokussiert. Wenn die Elektronen die Probe erreichen, entstehen durch Wechselwirkungen mit den Atomen Sekundärelektronen, die an der Oberfläche nachgewiesen werden können. Die rückgestreuten Elektronen werden aufgenommen und verwendet, um ein Bild der Probe zu erzeugen und die Konzentration bestimmter Elemente zu messen. Ein weiteres besonderes Merkmal von S 9220 ist das Multifokussierte Ionenstrahlmodul (FIB), das es Forschern ermöglicht, Präzisionsfräsen, Bildgebung, Dünnschichtabscheidung und andere innovative Materialanalysetechniken durchzuführen. Die FIB verwendet einen fokussierten Ionenstrahl, um kleine Bereiche der Probenoberfläche wegzufräsen und ein hochauflösendes Querschnittsbild zu erzeugen. Dieses leistungsstarke Werkzeug ermöglicht es Forschern, die inneren Schichten der Probe weiter zu untersuchen, ohne sie zu zerstören, sowie Materialien auf die Oberfläche aufzutragen. Die Eigenschaften des HITACHI S 9220 in Verbindung mit seiner hohen Auflösung machen es zu einem der fortschrittlichsten SEM-Instrumente auf dem Markt. Mit seinen fortschrittlichen Fähigkeiten und modernster Bildgebungstechnologie gibt S-9220 Forschern das Vertrauen, dass ihre Ergebnisse von höchster Genauigkeit und Qualität sind. Dadurch ist S9220 ideal für Anwendungen, die höchste Präzision in der Materialanalyse und Bildgebung erfordern.