Gebraucht HITACHI S-9220 #9170907 zu verkaufen

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HITACHI S-9220
Verkauft
ID: 9170907
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1993
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 8" 1993 vintage.
HITACHI S-9220 ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM) der renommierten Firma HITACHI High-Technologies Corporation. Es ist ein Flaggschiff-Modell in HITACHI-Serie von SEMs, mit erweiterten Fähigkeiten und überlegene Leistung für den Preis. HITACHI S9220 hat einen Betriebsspannungsbereich von 1-30 kV und liefert hochauflösende Bilder mit seinem Inlinsen-Sekundärelektronendetektor. Sein überlegenes Säulendesign bietet einen langen Arbeitsweg von 200 mm, so dass Benutzer mit einer Vielzahl von Proben arbeiten können. Darüber hinaus bietet das breite Sichtfeld (17 mm) des Geräts eine hervorragende Übersichtlichkeit und Detailtreue bei der Betrachtung von Mustern. Die S 9220 hebt sich mit ihren fortschrittlichen Funktionen wie dem In-Chamber Faraday Cup und einer verbesserten Flachfeldausrüstung weiter von ihren Kollegen ab. Auf diese Weise können Anwender problemlos auch Bereiche geringer Elektronendichte einer Probe abbilden. Das mehrsegmentige elektrostatische System dämpft die Schwingung der Probenstufe auch bei hohen Vergrößerungen effektiv. Darüber hinaus verfügt S9220 über mehrere ausgeklügelte Funktionen wie Bildgebung mit variablem Kontrast, Bildverzerrungskorrektur und blitzschnelle Live-Bildgebung. Das Gerät enthält auch eine am Anschluss montierte motorisierte Probenvergrößerung, die es Anwendern ermöglicht, Beispielbilder bis zu einem Maximum von 500x leicht zu vergrößern. S-9220 enthält auch mehrere leistungsstarke Softwarepakete für ultimative Benutzerfreundlichkeit. Dazu gehört ein fortschrittliches automatisiertes Bildanalyseprogramm, das Bildparameter wie Größe, Form und Textur sofort messen kann. Zusätzlich spart die halbautomatische Bildausrichtmaschine Zeit, indem sie selbst bei hohen Vergrößerungen automatisch Bilder zur genauen Messung aneinanderreiht. Abschließend ist HITACHI S 9220 ein ultrahochleistungsfähiges Rasterelektronenmikroskop. Es verfügt über eine breite Palette von erweiterten Funktionen und Softwarepaketen, so dass es ideal für Präzision, zuverlässige Abbildung einer Vielzahl von Proben, für eine Vielzahl von Versuchen und Anwendungen.
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