Gebraucht HITACHI S-9220 #9231943 zu verkaufen

HITACHI S-9220 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit High-End-Leistung für fortschrittliche Materialcharakterisierung, Forschung und industrielle Anwendungen. Es ermöglicht Benutzern den Zugriff auf eine umfassende Palette von bildgebenden und analytischen Funktionen. Diese Feldemission, Elektronmikroskop (FE-SEM) scannend, zeigt eine hohe Leistungsfeldemissionselektronpistole mit dem Raumdruck mindestens 1x10-7 Papa, höheren Bildaufbereitungsentschluss 1nm erreichbar fassend. HITACHI S9220 verfügt über eine ultrastabile Säulenkonstruktion für höhere elektrische Ströme bis 60 nA bei Temperaturregelung unter 2.0℃. Zusätzlich bietet die 300kV Beschleunigungsspannung eine verbesserte Bildauflösung. S 9220 ist mit vielen einzigartigen Features ausgestattet. Zum Beispiel zeigen die Inlens und Everlens Detektoren Sekundärelektronen und zurück gestreute Elektronenbilder, die Auflösung und Oberflächentopographie verbessern. Ein weiteres Feature ist die Hochgeschwindigkeits-Scan-Stufe, die eine maximale Scanrate von 4,5 μ/s auf einem 100 μ m XY-Sichtfeld bereitstellen kann. Auch die ultra-hohe Vakuumkammer kann Kammerdruck bis zu 1x10-7 Pa bereitstellen, um Proben zu verhindern und Ionenstrahlschäden zu reduzieren. S-9220 ist in der Lage, eine Vielzahl von analytischen Informationen zu erwerben. Energy Dispersive Röntgenspektrometrie (EDS) ermöglicht die Analyse der elementaren Zusammensetzung. Ein EBSD-Detektor ermöglicht die Erfassung von Orientierungskarten, die Phasenidentifikation, die semiquantitative Analyse von Körnern sowie die Messung der chemischen Zusammensetzung. Zusätzlich ermöglicht der In-Column Cs Korrektor eine Astigmatismus-Korrektur zur schnellen Fokuseinstellung. S9220 FE-SEM zeigt auch verschiedene Probenvorbereitungstechniken für organische Materialien. Atom-Sondentomographie, sekundäre Ionenmassenspektrometrie, Lasermikroskopie und fokussierte Ionenstrahl (FIB) Fähigkeiten können hinzugefügt werden, um die Instrumentenfähigkeiten weiter zu verbessern. Darüber hinaus bietet EDAX ein Galaxy-Modul mit der einzigartigen Fähigkeit, den SEM- und EDS-Detektor HITACHI S 9220 mit dem Inlens-Detektor des Mikroskops zu verknüpfen. Auch die Hirox-Kamera und das Kollisionsschutzsystem SEMcore bieten dem Anwender wichtige Sicherheitsmerkmale. Das SEMcore-Kollisionsschutzsystem stoppt automatisch die Bühne, um zu verhindern, dass der Benutzer die Probe beschädigt. Mit seiner verbesserten bildgebenden und analytischen Leistung ist HITACHI S-9220 das perfekte Werkzeug für die Werkstoffcharakterisierung und -forschung.