Gebraucht HITACHI S-9220 #9236031 zu verkaufen

HITACHI S-9220 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Feldemissionskanone verwendet und für hochpräzise Beobachtungen geeignet ist. Es bietet eine maximale Auflösung von 0,22 nm bei hoher Vergrößerung und eine maximale Vergrößerung von 300.000x. HITACHI S9220 ist zudem mit einer motorisierten X-Y-Probenstufe ausgestattet, die eine automatisierte Probenabtastung und präzise Probenausrichtung ermöglicht. Das SEM ist in der Lage, Multielementanalysen und andere analytische Prozesse wie EDX-PAC und SAC sowie verbesserte bildgebende Modi mit hohem Kontrast wie elektronenstrahlinduzierter Strom (EBIC) und energiedispersive Spektroskopie (EDS) zu analysieren. S 9220 verfügt außerdem über ein Rasterionenmikroskop (SIM) zur Beobachtung von Oberflächenstrukturinformationen. S-9220 verwendet eine spaltenkonforme Linse, um Artefakte aus dem Elektronenstrahl zu reduzieren, was zu Bildern mit hoher Genauigkeit und Klarheit führt. Eine speziell entwickelte Leinwand und Projektionsoptik bieten eine helle, dreidimensionale Ansicht, ideal für Beobachtung. Darüber hinaus verfügt das System über eine große Fokustiefe für die Anzeige von Merkmalen in verschiedenen Tiefen mit geringer Entwicklungszeit. S9220 ist für Spitzenleistungen konzipiert und bietet eine benutzerfreundliche Steuerung und Bedienung. Es ist mit einem variablen Arbeitsabstand, automatischer Probenerkennung und schnellen Vergrößerungsänderungen ausgestattet. Das System verfügt über eine umfassende Software, die eine intuitive Benutzeroberfläche für die Bildaufnahme, Analyse und Datenverarbeitung bietet. Die Größe und das Design der HITACHI S 9220 ermöglichen einen einfachen Zugang zur Probenkammer. Probenhalter erlauben auch die Beobachtung von Proben in der Vakuumumgebung. Ein automatisches Auswerfersystem verhindert eine Verschmutzung der Kammer durch Rückstände der Probe. Zusammenfassend ist HITACHI S-9220 ein leistungsstarkes und zuverlässiges SEM, das überlegene Bildgebungsfunktionen und Genauigkeit bietet. Mit einer maximalen Auflösung von 0,22 nm, Multielementanalyse, motorisierter XY-Probenstufe, verbesserten Bildgebungsmodi und benutzerfreundlicher Software bietet es eine Spitzenleistung und Sicherheit für eine erfolgreiche Probenbeobachtung.