Gebraucht HITACHI S-9220 #9250489 zu verkaufen

Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.

HITACHI S-9220
Verkauft
ID: 9250489
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-9220 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für den Einsatz in Forschung und Entwicklung sowie in der industriellen und pädagogischen Untersuchung. Dieses Mikroskop verwendet Elektronenstrahlen, die es ermöglichen, detaillierte Bilder von Materialien in Nanometerauflösung zu erhalten. HITACHI S9220 verwendet einen Sekundärelektronendetektor, einen rückgestreuten Elektronendetektor, eine gesamte Sekundärelektronenbildgebung und eine Fernfeldelektronendetektion. Die Detektoren sind in der Lage, mehrere Bilder einer Probe gleichzeitig zu erfassen und können entweder mit einem Masseschild oder einer Hochspannungsabschirmung verwendet werden. Das Mikroskop besteht aus einer großen Kammerstruktur mit einem nutzbaren Volumen an 120L. An den Seitenwänden der Kammer befinden sich ein Paar vertikaler Stufen. Die Stufen sind in der Lage, die Probe in der X-, Y- und Z-Achse genau zu bewegen. Zusätzlich sind eine zweiarmige Stufe und eine Hochspannungsabschirmung ausgestattet, um die Probe noch weiter zu manipulieren. Das Mikroskop ist mit einem Personalcomputer verbunden, wo bildgebende Daten übertragen und analysiert werden können. Zur Erzeugung des Elektronenstrahls setzt S 9220 eine Wolframfadenelektronenquelle ein. Das Filament wird auf mehrere hundert Grad Celsius erhitzt, um Elektronen anzuregen, während ein dreiachsiges Abtastsystem verwendet wird, um die Flugbahn des Strahls zu manipulieren. Dadurch kann der Strahl je nach Bedarf unterschiedliche Winkel erreichen, um Bilder der Probe zu erhalten. Die erzeugten Elektronen werden durch ein Säulenlinsensystem, bestehend aus einer Selektorlinse, Kondensatorlinse und Objektivlinse, gesteuert. Diese Linsen werden zusammen mit dem Abtastsystem verwendet, um den Fokus und die Größe des betrachteten Bereichs auf der Probe einzustellen. Der Detektorabschnitt des Mikroskops umfasst sowohl die Bedienerseite als auch die Detektorseite. Die Bedienerseite steuert den Detektor, während die Detektorseite die Elektronen aus der Probe sammelt. Es ist auch mit einer Schlagionisationskammer für Off-Axis-Elektronenoptik ausgestattet, die die Topographie des Materials in 3D-Bildern erfassen kann. Mit einer Reihe fortschrittlicher Technologien bietet HITACHI S 9220 hervorragende Leistung bei routinemäßigen und schwierigen Proben. Es ist hochgenau, zuverlässig und in der Lage, Bilder mit hervorragenden Details zu produzieren. Die Benutzerfreundlichkeit macht es ideal für industrielle, akademische und Forschungsumgebungen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor