Gebraucht HITACHI S-9220 #9265150 zu verkaufen

HITACHI S-9220
ID: 9265150
Wafergröße: 8"
Scanning Electron Microscope (SEM), 8".
HITACHI S-9220 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit Hochleistungsbildern zur hochauflösenden Beobachtung. HITACHI S9220 bietet kontrastreiche Bildgebung in Sekundärelektronen und eine große Kammer für große Objekte. Seine Flexibilität und Unabhängigkeit ermöglicht die Bewältigung eines breiten Anwendungsspektrums. S 9220 ist mit einem Zweistrahlmodus für SEM und fokussierten Ionenstrahl (FIB) ausgestattet. Es enthält auch einen intelligenten Probenhalter, um die Position der Probe schnell und genau einzustellen und ein optionales Stickstoffgaseinspritzsystem, um die SEM-Nachweisbarkeit zu verbessern. HITACHI S 9220 verfügt über ein verbessertes Bildgebungssystem mit variablem Druck für nichtleitende Proben. Es bietet hochauflösende Bilder mit geringem Rauschen für höheren Kontrast. S9220 können mit einer Vielzahl von Detektoren konfiguriert werden, einschließlich E-Gun, SE2 und BSE-Detektor, so dass mehrere Bildgebungstechniken möglich sind. S-9220 können auch mit fortgeschrittenen Probenvorbereitungswerkzeugen ausgestattet werden. Dazu gehört ein Sputtersystem, mit dem nichtleitende Proben zur SEM-Beobachtung metallisiert werden können. Es gibt auch einen Rückstreudetektor, der die Zusammensetzung der Probe nachweisen kann, so dass Zusammensetzungsvariationen abgebildet werden können. Für die bildgebende Analyse verfügt HITACHI S-9220 über ein computergestütztes Merkmalsmesstool zur automatisierten Analyse von Partikelgröße und Bildverarbeitung. Es umfasst auch eine automatisierte KE-Erkennung, die die automatische Erkennung von KEs, wie Hohlkugeln, ermöglicht. HITACHI S9220 ist sowohl für erfahrene als auch für Anfänger einfach zu bedienen. Es enthält intuitive Software, wie HITACHI ImageJ Software für die Bildverarbeitung. S 9220 verfügt auch über einen automatischen Setup-Assistenten, der den Benutzer durch den Setup-Prozess führt. Zusammenfassend ist HITACHI S 9220 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop für hochauflösende Bildgebung. Es ist in der Lage, in einer Vielzahl von Detektormodi abzubilden, und es enthält eine Reihe von Probenvorbereitungs- und Analysewerkzeugen. Es verfügt über eine benutzerfreundliche Benutzeroberfläche und einen Setup-Assistenten, um es benutzerfreundlich für jede Benutzerebene zu gestalten.
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