Gebraucht HITACHI S-9260 #118664 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 118664
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2003
CD SEM measurement system, 8"
Configuration:
Main body:
Loader chamber
Wafer holder
(2) Exc chambers and arm
Main chamber
(2) Turbo pumps and controller
Gun head
Lens column
OM camera
(3) Ion pumps
(2) Exchange arms
Sensor amplifier
SEI detector
PM HV PCB
Status check panel
Sensor interface PCB
Lens power supply
Lens controller
Evac power supply
Stage power supply
Air pressure solenoid set
Baking tool
Cassette to cassette unit:
Robot controller
Robot and arm
(3) Cassette indexers, open, 8"
Wafer aligner
Control unit:
19" LCD monitor
HP work station
Keyboard and interface
Mouse
MO driver
80 color thermal printer
Image printer
LAN hub and modem
Emergency software unit
Service monitor: 9", black and white
System disks: (3), MO type
HV control unit
Fan unit
E/O creating:
ECPU
(4) EBS1100
COGNEX
H copy
IMEM
SIP
PSDISP
SGVA
EOCONT
OMAFC
Power supply PB
Power distribution unit
Power unit:
Ion pump power
UPS
Baking unit
Dry pumps: (2) KASHIYAMA SD-90 V III
Chiller: W5010
(4) Rubber vacuum hoses
Weight block: 40kg
2003 vintage.
HITACHI S-9260 Rasterelektronenmikroskop ist ein zuverlässiges und vielseitiges Gerät für Materialprüfungen und Forschungsanwendungen. HITACHI S9260 ist ein hochauflösendes (2.0nm) SEM mit der Fähigkeit, hochauflösende Bilder, elementare Mappings zu messen und Mikrostrukturen schnell zu identifizieren. Seine Kernkompetenz liegt in den Bereichen Materialwissenschaft, Nanoskala-Bildgebung und Defektanalyse organischer und metallischer Substrate. Die hohe Präzisionsstufe und Strahlsteuerung von S 9260 ermöglichen eine genaue Analyse kleiner nanoskaliger Objekte und Funktionen. HITACHI S 9260 verwendet fortschrittliche Elektronenkanonen-Technologie, ein Zeiss Schottky Elektronenoptik-System und einen Lanex/Super-Lanex-Detektor, um genaue, klare Bilder zu liefern, die es ermöglichen, Mikrostrukturen und Defekte leicht zu identifizieren. Es ist ein PCI-konformes Instrument, das bedeutet, dass seine Komponenten und Software mit den meisten PC-Systemen verwendet werden können. Dadurch kann das Mikroskop leicht aktualisiert werden, um mit den neuesten Technologien und Trends Schritt zu halten. S9260 bietet sowohl erweiterte automatisierte Analyse- als auch manuelle Bedienungsfunktionen. Es arbeitet mit dem Benutzer, um die Bedingungen anzupassen, einschließlich Strahlstrom, Vergrößerung (bis zu 50.000X), Beschleunigungsspannung und mehr. Mit Werkstoffprüffunktionen wie Rückstreuung, Röntgenbeugung, WDS (Wellenlängen-Dispersionsspektroskopie) und EDS (Energiedispersive Spektroskopie) kann S-9260 detaillierte Informationen über die Mikrostruktur von Metallen, Keramiken und Polymeren liefern. Kompatibel mit zweidimensionalem und 3D-Bildstapeln bietet HITACHI S-9260 hochauflösende und hochquantifizierte Bilder. Es bietet auch die Möglichkeit, verschiedene Arten von Elementen abzubilden, einschließlich der Elemente auf dem Periodensystem, mit einem zusätzlichen EDS-Detektor. Mit Funktionen wie automatisierter Partikelmerkmalsmessung, systematischer Bilderzeugung für Bildmosaik- und 3D-Tomographie kann HITACHI S9260 eine breite Palette von Materialprüfungs- und Analyseprojekten und -anwendungen abdecken. Insgesamt ist das S 9260 Rasterelektronenmikroskop ein unglaublich leistungsfähiges und zuverlässiges Gerät für die Materialprüfung und -forschung. Ausgestattet mit fortschrittlichen automatisierten Analysefunktionen, anpassbaren Funktionen und der Fähigkeit, die Erkennung verschiedener Elemente anzupassen, ist es ein wesentliches Instrument für Labore und Forschungszwecke.
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