Gebraucht HITACHI S-9260 #118664 zu verkaufen

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ID: 118664
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2003
CD SEM measurement system, 8" Configuration: Main body: Loader chamber Wafer holder (2) Exc chambers and arm Main chamber (2) Turbo pumps and controller Gun head Lens column OM camera (3) Ion pumps (2) Exchange arms Sensor amplifier SEI detector PM HV PCB Status check panel Sensor interface PCB Lens power supply Lens controller Evac power supply Stage power supply Air pressure solenoid set Baking tool Cassette to cassette unit: Robot controller Robot and arm (3) Cassette indexers, open, 8" Wafer aligner Control unit: 19" LCD monitor HP work station Keyboard and interface Mouse MO driver 80 color thermal printer Image printer LAN hub and modem Emergency software unit Service monitor: 9", black and white System disks: (3), MO type HV control unit Fan unit E/O creating: ECPU (4) EBS1100 COGNEX H copy IMEM SIP PSDISP SGVA EOCONT OMAFC Power supply PB Power distribution unit Power unit: Ion pump power UPS Baking unit Dry pumps: (2) KASHIYAMA SD-90 V III Chiller: W5010 (4) Rubber vacuum hoses Weight block: 40kg 2003 vintage.
HITACHI S-9260 Rasterelektronenmikroskop ist ein zuverlässiges und vielseitiges Gerät für Materialprüfungen und Forschungsanwendungen. HITACHI S9260 ist ein hochauflösendes (2.0nm) SEM mit der Fähigkeit, hochauflösende Bilder, elementare Mappings zu messen und Mikrostrukturen schnell zu identifizieren. Seine Kernkompetenz liegt in den Bereichen Materialwissenschaft, Nanoskala-Bildgebung und Defektanalyse organischer und metallischer Substrate. Die hohe Präzisionsstufe und Strahlsteuerung von S 9260 ermöglichen eine genaue Analyse kleiner nanoskaliger Objekte und Funktionen. HITACHI S 9260 verwendet fortschrittliche Elektronenkanonen-Technologie, ein Zeiss Schottky Elektronenoptik-System und einen Lanex/Super-Lanex-Detektor, um genaue, klare Bilder zu liefern, die es ermöglichen, Mikrostrukturen und Defekte leicht zu identifizieren. Es ist ein PCI-konformes Instrument, das bedeutet, dass seine Komponenten und Software mit den meisten PC-Systemen verwendet werden können. Dadurch kann das Mikroskop leicht aktualisiert werden, um mit den neuesten Technologien und Trends Schritt zu halten. S9260 bietet sowohl erweiterte automatisierte Analyse- als auch manuelle Bedienungsfunktionen. Es arbeitet mit dem Benutzer, um die Bedingungen anzupassen, einschließlich Strahlstrom, Vergrößerung (bis zu 50.000X), Beschleunigungsspannung und mehr. Mit Werkstoffprüffunktionen wie Rückstreuung, Röntgenbeugung, WDS (Wellenlängen-Dispersionsspektroskopie) und EDS (Energiedispersive Spektroskopie) kann S-9260 detaillierte Informationen über die Mikrostruktur von Metallen, Keramiken und Polymeren liefern. Kompatibel mit zweidimensionalem und 3D-Bildstapeln bietet HITACHI S-9260 hochauflösende und hochquantifizierte Bilder. Es bietet auch die Möglichkeit, verschiedene Arten von Elementen abzubilden, einschließlich der Elemente auf dem Periodensystem, mit einem zusätzlichen EDS-Detektor. Mit Funktionen wie automatisierter Partikelmerkmalsmessung, systematischer Bilderzeugung für Bildmosaik- und 3D-Tomographie kann HITACHI S9260 eine breite Palette von Materialprüfungs- und Analyseprojekten und -anwendungen abdecken. Insgesamt ist das S 9260 Rasterelektronenmikroskop ein unglaublich leistungsfähiges und zuverlässiges Gerät für die Materialprüfung und -forschung. Ausgestattet mit fortschrittlichen automatisierten Analysefunktionen, anpassbaren Funktionen und der Fähigkeit, die Erkennung verschiedener Elemente anzupassen, ist es ein wesentliches Instrument für Labore und Forschungszwecke.
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