Gebraucht HITACHI S-9260 #9351371 zu verkaufen

HITACHI S-9260
ID: 9351371
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2003
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 8" 2003 vintage.
HITACHI S-9260 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit hoher Geschwindigkeit und hoher Auflösung in kompakter Bauweise. Dieses vielseitige Instrument eignet sich für eine breite Palette von Anwendungen in der Material- und Nanotechnologie. HITACHI S9260 bietet einen beschleunigenden Spannungsbereich von 0,5 bis 30kV mit einer nach oben geneigten Option zur Winkelbeobachtung sowie einer großen Tiefenschärfe und einer hohen Kontrastabbildungsfähigkeit. Es verfügt auch über eine Vakuumkammer mit einer Octapol-Ionen-Pumpe, um einen Druck in der Kammer von 1x10-5 Torr zu halten. Dies gewährleistet einen hochauflösenden Hochspannungsbetrieb auch bei relativ hohen Kammerdrücken. S 9260 ist mit einem digitalen Hochleistungsdetektorsystem ausgestattet, das stabile und klare Bilder von mikroskopischen Details liefert. Es verwendet einen sekundären Elektronendetektor (SE) sowie eine Feldemissionskanone für hochauflösende Bildgebung und erweiterte analytische Fähigkeiten. Der SE-Detektor eignet sich für hochauflösende Bildgebung mit feinen Details, und die Feldemissionskanone kann für die energiefilterte Rasterübertragungselektronenmikroskopie (ETEM) verwendet werden. Neben hervorragenden bildgebenden Funktionen bietet S9260 eine breite Palette von Probenvorbereitungs- und Analysefunktionen. Die Kammer ist in der Lage, in situ Probe Manipulation und Analyse unter dem Mikroskop, wie fokussierte Ionenstrahl (FIB) Fräsen, Sputterbeschichtung, und andere Probenvorbereitungsprozesse. S-9260 verfügt auch über die Fähigkeit, Elektronenbeugungsexperimente durchzuführen, und verfügt über ein automatisiertes Bild-Verschiebe-Ausrichtungssystem auf seinen Stufen, um die Probe mit 0,1-Grad-Genauigkeit zu positionieren. Die HITACHI S 9260 ist ferner mit einer Ausgasungsmembran ausgestattet, die über die Probe gelegt werden kann, um die Möglichkeit einer Elektronenstrahlschädigung während der Beobachtung weiter zu reduzieren. Zur Erfassung von Bildern mit höherer Kontrastauflösung steht auch ein automatisierter Ringdunkelfelddetektor zur Verfügung. HITACHI S-9260 ist in der Lage, flexible SEM-Anwendungen in verschiedenen Bereichen wie Materialwissenschaft, Life Science und industrielle Anwendungen. Es ist ein zuverlässiges, kostengünstiges Werkzeug für jedes Forschungslabor, das nach einer schnellen Bilderfassung und Auswertung einer Vielzahl von Proben sucht.
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