Gebraucht HITACHI S-9260A #293608753 zu verkaufen

HITACHI S-9260A
ID: 293608753
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
HITACHI S-9260A ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Bildgebung, Charakterisierung und Analyse von Oberflächen und Strukturen in biologischen und anorganischen Anwendungen. HITACHI S 9260A ist in der Lage, sowohl hochauflösende Bildgebung mit großer Schärfentiefe als auch schnelle Abtastraten zu erreichen, um schnelle Analysen und Datenerfassung zu erreichen. Das Mikroskop besteht aus einer Vakuumsäule, in der die Abbildungs- und Analysekammern untergebracht sind, und dem Zubehör für die Probenvorbereitung und -manipulation. Die Säule nutzt die halbkugelförmige Elektronenkanone zur Erzeugung eines Elektronenstrahls bei hohen Beschleunigungsspannungen. Die Pistole wird dann eingestellt, um die Probe zu vergrößern, indem die Elektronen in richtigen Bahnen fokussiert und beschleunigt werden. Sobald der Strahl gerichtet ist, erzeugen Sekundär- und Polstücke ein elektromagnetisches Feld, um Bilder der Probe auf den Betrachtungsschirm zu projizieren. S-9260 Die Abbildungskammer von A kann zwischen drei Arten von Elektronendetektoren und dem Röntgendetektor wechseln. Der elektronisch einstellbare einfallende Elektronenstrahl ermöglicht die Wahl sowohl des Nieder- als auch des Hochspannungsbetriebs und die Steuerung des Winkels des Strahlwinkels. HITACHI S-9260 A ist auch in der Lage, die durch den Elektronenstrahl erzeugten Röntgenstrahlen zu detektieren und zu trennen, wobei bis zu zwei Detektoren parallel zur Verfügung stehen. Die Analysekammer enthält drei Linsensysteme und zwei Ionenpistolen, mit denen die Oberfläche der Probe gescannt und gemessen werden kann. Diese Linsensysteme schließen ein hochauflösendes, Niedrigstromspannungsniedrigstromsystem, ein System des sekundären Elektronentdeckers (SED) und anorganische Röntgenstrahlphotoelektronspektroskopiensysteme (XPS) ein. Die Ionenpistolen können verwendet werden, um den Elektronenstrahl zu verstärken, um eine effiziente Oberflächendefektanalyse zu ermöglichen. HITACHI S 9260 A ist mit einer breiten Palette von Zubehör, wie einer Probenstufe, Haltern und Probenträgern ausgestattet. Dieses Zubehör soll eine korrekte Ausrichtung der Probe gewährleisten und die Charakterisierung der Probe erleichtern. Darüber hinaus können S-9260A mit kundenspezifischen optischen Systemen verwendet werden, um eine genaue Bildgebung und Analyse zu ermöglichen. Darüber hinaus kann fortschrittliche Software in das System integriert werden, um Bildgebungs- und andere Analyseprozesse zu automatisieren und zu rationalisieren. Abschließend ist S 9260 A ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop, das sich für eine breite Palette von bildgebenden, charakterisierenden und analytischen Anwendungen eignet, von biologischen bis hin zu anorganischen Proben. Die fortschrittliche Elektronenstrahloptik und das erweiterte Zubehör des Mikroskops sowie fortschrittliche Steuerungs- und Automatisierungssysteme machen S 9260A zu einem leistungsstarken und vielseitigen Werkzeug für Oberflächen- und Strukturuntersuchungen.
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