Gebraucht HITACHI S-9260A #9177765 zu verkaufen

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ID: 9177765
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2011
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 8" Open cassette type Missing parts: ROM PCB ST-SUB: Interface PCB MHV: High voltage control PCB Alarm: Transfer unit interface PCB Linear scale Linear scale head Vacuum valve AV6 AMP Connector 2011 vintage.
HITACHI S-9260A ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das weit verbreitet zur Erforschung und Analyse der Oberflächeneigenschaften und -strukturen einer Vielzahl von Materialien eingesetzt wird. Es hat eine Reihe von Eigenschaften, die es für eine Vielzahl von Laboranwendungen geeignet machen. Das herausragendste Feature des Geräts ist die hochauflösende Bildgebung. Das Gerät verfügt über eine leistungsstarke Elektronenoptik und ein großes Sichtfeld (FOV) von sogar bis zu 200 mm. Es ist mit einer Hochleistungs-Elektronenkanone ausgestattet, die hochwertige Bilder liefert. Das Elektronenoptiksystem des Mikroskops umfasst eine Reihe von Vorrichtungen und Komponenten, wie die Kondensatorlinse, den Polepiece-Wechselmechanismus und die Objektivlinse. Die Hochspannungsversorgung des Geräts bietet einstellbaren Strahlstrom für hochgenaue und reproduzierbare Bilder. Das Mikroskop weist eine Vielzahl von Abbildungsmodi auf, wie Hochspannungs-Sekundärelektron (HVSE), Niederspannungs-Sekundärelektron (LVSE), Rückstreuelektron (BSE), reflektiertes Elektron (RE) und Lichtfeld-Rasterelektronenmikroskopie (Bf-Sem). Der HVSE- und LVSE-Modus ermöglicht dem Benutzer eine Auflösung von bis zu 0,7 nm, während der BSE-, RE und BF-SEM-Modus am besten verwendet wird, wenn die Oberflächeneigenschaften verschiedener Materialien verglichen und die mikrostrukturellen Merkmale von Proben untersucht werden. Das Mikroskop hat auch eine optionale Umgebungskammer, mit zehn verschiedenen Gas- und Vakuumeinlässen, für Temperatur, Feuchtigkeit und Druckregelung. Diese Funktion ermöglicht es dem Benutzer, die Beobachtung und Charakterisierung von Proben unter kontrollierten, reproduzierbaren Bedingungen durchzuführen. Das Instrument ist auch mit einem automatischen Strahlblanker mit optionaler Strom- und Spannungsregelung ausgestattet, um zu verhindern, dass der Strahl die Probe überbelichtet. Dadurch wird sichergestellt, dass empfindliche Materialien ohne Schadensgefahr beobachtet werden können. Darüber hinaus verfügt das Gerät über eine Vielzahl von Bildverarbeitungswerkzeugen, einschließlich Bildschichten, Autofokus, Partikelautoanalyse und Fuzzy-Logik-Tools, um die Bildauflösung weiter zu verbessern. Schließlich ist das Gerät mit einer benutzerfreundlichen grafischen Benutzeroberfläche (GUI) ausgestattet. Die GUI macht das Instrument extrem einfach zu bedienen, da der Anwender die Funktionen und Parameter des Mikroskops einfach über ein Menüsystem steuern kann. Die GUI bietet auch eine grafische Darstellung der beobachteten Bilder und Daten, so dass der Benutzer die Ergebnisse schnell interpretieren und analysieren kann. Mit all seinen fortschrittlichen Funktionen ist HITACHI S 9260A ein ideales Instrument für präzise und zuverlässige Oberflächenanalysen, Bildgebung und Charakterisierung.
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