Gebraucht HITACHI S-9260A #9189513 zu verkaufen

ID: 9189513
CD Scanning electron microscope (SEM) Missing parts: ROM PCB (Stage) ST-SUB PCB (Stage) MHV PCB Alarm IF PCB Linear scale amp Linear scale head Valve AV6 AMP Connector.
HITACHI S-9260A ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sich ideal für die Bildgebung und Analyse verschiedener Materialien eignet, von Polymerfilmen bis zu Nanomaterialien. Dieses Mikroskop zeigt eine sekundäre Elektronentdeckungsausrüstung in der Linse, die dazu fähig ist, hochauflösende Bilder mit der hohen Unähnlichkeit in einer breiten Tiefe des Feldes zu erzeugen. Die erhöhte Schärfentiefe ermöglicht ein größeres Sichtfeld und eine geringere Elektronenenergie wird verwendet, um die Probenaufladung zu reduzieren. Dadurch ergibt sich eine hohe Bildqualität mit ausgezeichnetem Kontrast auch bei der Abbildung von nichtleitenden Proben wie Polymerfilmen. HITACHI S 9260A verfügt auch über eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten, einschließlich einer hochempfindlichen Energie dispersive Spektroskopie (EDS) System. Die EDS-Einheit ist in der Lage, eine präzise elementare Identifizierung und Kartierung bereitzustellen, die eine schnellere und genauere Analyse ermöglicht. Das SEM umfasst auch eine automatisierte Bühnenmaschine, die es ermöglicht, Bilder großer Flächen schnell zu erfassen. Darüber hinaus ist das Mikroskop mit einem Hochgeschwindigkeits-Sondenstromwerkzeug ausgestattet, das Stromsignale von Sonden in Nanometergröße an der Probe messen kann. Das Vakuum-Asset in S-9260 A ist ein zweistufiges Extrakt-Design. Dies ermöglicht eine schnelle Wendezeit, da das Vakuum unmittelbar nach der letzten Probe einsatzbereit ist. Die Stufen am Mikroskop sind motorisiert, was eine präzise Positionierung und einfache Wiederholung der bildgebenden Aufgaben ermöglicht. Die Objektivlinse im Mikroskop bietet bis zu 50000x Vergrößerung und bietet viel Auflösung, um jedes gewünschte Detail zu erfassen. HITACHI S-9260 A ist ein vielseitiges Mikroskop mit einer breiten Palette von Eigenschaften und Fähigkeiten, so dass es ideal für die Materialanalyse. Sein sekundäres Elektronentdeckungsmodell in der Linse bietet hochauflösende Bildaufbereitung und ausgezeichnete Unähnlichkeit selbst wenn Bildaufbereitung nichtleitender Muster. Die EDS-Ausrüstung bietet eine präzise elementare Identifizierung und Kartierung. Vakuumsystem und motorisierte Stufen bieten schnelle Wendezeit und präzise Positionierung. Schließlich ist das Mikroskop in der Lage, bis zu 50000x Vergrößerung, so dass es in der Lage, auch die kleinsten Details zu erfassen.
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