Gebraucht HITACHI S-9300 #9206012 zu verkaufen

HITACHI S-9300 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hochauflösende Abbildung sowohl nichtleitender als auch leitender Proben mit einer Vergrößerungsleistung von bis zu 200.000 x ermöglicht. Es ist speziell auf Benutzerfreundlichkeit und einfache Bedienung ausgelegt und ermöglicht einen schnellen Übergang von einem Bildgebungsmodus zum anderen. HITACHI S9300 verwendet eine Felddemissionselektronenkanone (FEG) für einen helleren und stabileren Elektronenstrahl, zusätzlich zu einer hohen thermischen, elektrischen und mechanischen Stabilität und einem niedrigen Basisvakuum. Das Mikroskop verfügt über eine automatisierte Probenbearbeitungskammer und einen In-Linsen-Detektor mit hoher Empfindlichkeit und schneller Geschwindigkeit, so dass Anwender schnell und einfach zwischen bildgebenden Modi wie topographischen und elementaren Karten wechseln können. Die Probenstufe verfügt über eine motorisierte Feinfokussiereinrichtung, die eine schnelle Fokussierung ohne Beeinflussung von Probenparametern ermöglicht. Darüber hinaus umfasst S 9300 ein automatisiertes Präzisionsmusterscansystem, mit dem Benutzer die Scangeschwindigkeit und die Feldbreite sowie andere Einstellungen anpassen können, um die Bildverarbeitungsbedingungen zu optimieren. Das Gerät verfügt über zwei Detektoren: einen Everhart-Thornley-Detektor zur Abbildung der Oberflächentopographie und einen energiegefilterten In-Linsen-Detektor mit sekundärer Elektronenbildgebung zur Elementaranalyse. Der Everhart-Thornley-Detektor kann verwendet werden, um eine hochauflösende Abbildung von nichtleitenden und leitenden Proben aufrechtzuerhalten, mit Bildauflösungen von bis zu 0,8 nm Linie/Abstand. Die sekundären Elektronenbildfunktionen von S-9300 sind für eine schnelle und einfache Bedienung optimiert und bieten Auflösungen von bis zu 0,7 nm. Die Fähigkeit, zwischen diesen beiden Abbildungsmodi umzuschalten, ermöglicht die gleichzeitige Abbildung von Oberflächentopographie und elementaren Karten, während die Kombination von schnellen Abtastgeschwindigkeiten und einer hohen Abbildungsempfindlichkeit eine Hochgeschwindigkeitsabbildung ermöglicht. HITACHI S 9300 ist zudem mit einer Vielzahl von Zusatzfunktionen ausgestattet, darunter eine automatisierte Probenbearbeitungskammer, eine motorisierte Probenstufe, eine eingebaute Vakuumeinheit und eine energiedispersive Röntgenmaschine (EDX) mit einem Hochgeschwindigkeitsdetektor. Das EDX-Tool eignet sich hervorragend zur Durchführung von Elementaranalysen verschiedener Feststoffproben und ist mit einem zusätzlichen EDX MEGA-Detektor für die Lichtelementanalyse ausgestattet. S9300 ist ein ideales Rasterelektronenmikroskop für eine Vielzahl von forschungs- und technikbezogenen Aufgaben, und seine Kombination aus Effizienz, Benutzerfreundlichkeit und Leistung machen es zu einem der besten SEMs, die heute auf dem Markt erhältlich sind.