Gebraucht HITACHI S-9360 #9206010 zu verkaufen
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ID: 9206010
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2003
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 12"
2003 vintage.
HITACHI S-9360 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein multifunktionales, leistungsstarkes und vielseitiges Instrument zur Erforschung und Analyse biologischer und physikalischer Proben. Es handelt sich um ein hochmodernes SEM-System bestehend aus einer elektronischen Säule, einer TEM/SEM-Kammer, einem digitalen Bildprozessor und einem Bildanalysator. HITACHI S9360 ist mit einer größeren 4.5KV statischen Stufe und einer leichten, faltbaren STEM-EM-Stufe ausgestattet, um Materialien sowohl in der Rasterelektronen- als auch in der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) zu analysieren. Zusätzlich ist S 9360 mit einem Hochhelligkeits-Röntgendetektor für Anwendungen wie EDS ausgestattet. HITACHI S 9360 verwendet eine Feldemissionselektronpistole (FEG) mit einem kalten Glühfaden und hat eine Elektronbeschleunigungsstromspannungsreihe 0,1 bis zu 30 kV, ihm ermöglichend, viel kleinere Gegenstände zu entdecken, als vorheriger SEMs. Es verfügt über eine große Probenkammer, die bis zu einer 4 "-Probe Platz bietet, so dass Forscher größere Proben analysieren können, als andere SEM-Modelle bieten. Darüber hinaus hat es eine Kontrastauflösung von 5 nm, so dass es die Fähigkeit, komplizierte Details auf der Mikroskala zu erkennen. S-9360 ist mit Bildverarbeitungsleistung ausgestattet, die eine Live-Bildverarbeitung und eine digitale Echtzeitkorrelation mit der zeitlichen Dynamik einer Probe ermöglicht. Dieses SEM verfügt über zwei Hauptabbildungsmodi, einen, der sich der Gewinnung von Bildern in hoher Auflösung mit einer Pixelempfindlichkeit von 300V/Pixel und den anderen widmet, der eine breite Palette von Informationen in einem einzigen Scan bereitstellt. Darüber hinaus verfügt S9360 über einen automatischen Stufenscannermodus zur Zuordnung großer Bereiche eines Beispiels in einer einzigen Sitzung. Die für HITACHI- S-9360 benötigte Probenvorbereitung ist deutlich geringer als bei anderen SEM-Modellen. Dies ist auf seinen Niedervakuumzustandsbetrieb, 3000X maximale Vergrößerung und seine Fähigkeit, zahlreiche Probentypen zu analysieren, zurückzuführen. HITACHI- S9360 können eine langsame, KV-arme Sekundärelektronenbildgebung (SEI), auch als strahlempfindliche Bildgebung bekannt, bereitstellen, was bei der Abbildung hochstrahlempfindlicher Proben nützlich ist. Insgesamt ist das S 9360 Rasterelektronenmikroskop ein zuverlässiges und fortschrittliches Instrument für verschiedene Anwendungen. Mit seinen FEG-, Digitalprozessor- und Bildanalysesystemen bietet es Forschern ein breites Spektrum an Funktionen in SEM und TEM. Es hat eine hohe Kontrastauflösung und eine große Probenkammer, so dass es eine ideale Wahl für verschiedene Forschungs- und Analyseprojekte ist.
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