Gebraucht HITACHI S-9380 II #293639326 zu verkaufen

HITACHI S-9380 II
ID: 293639326
Critical Dimension Scanning Electron Microscopes (CD-SEM).
HITACHI S-9380 II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in einer Vielzahl von Forschungsbereichen eingesetzt wird, von Nanotechnologie und Werkstofftechnik bis hin zu Biologie, Optoelektronik und Geologie. Das Mikroskop wurde entwickelt, um hochauflösende Bilder von Proben mit sehr detaillierter Auflösung zu erfassen, um ihre physikalischen, chemischen und biologischen Komponenten zu analysieren. Es ist eine fortschrittliche Technologie, die einen ausgeklügelten Elektronenstrahl verwendet, um Bilder von beispielloser Genauigkeit und Detailtreue zu erzeugen. HITACHI S9380 II verfügt über eine hochkarätige bildgebende Ausrüstung, die Vergrößerungen bis zu einhundertachtzigtausendmal abdeckt. Das System verwendet eine Hochspannungssäule, um eine möglichst hohe Auflösung zu erreichen. Es verwendet auch eine CEMES Energy Imaging-Einheit, um Benutzern Zugriff auf hochauflösende Analyse von Materialien zu ermöglichen. Darüber hinaus verfügt das Rasterelektronenmikroskop über eine hochgerüstete Standard-Bedienmaschine, um Datengenauigkeit und Stabilität zu gewährleisten. Die Probenkammer der Mikroskope ist mit einer 360-Grad-Probendrehfunktion und einem Autofokussierwerkzeug ausgestattet. Dies bietet eine erhöhte Flexibilität und Genauigkeit bei der Probenvorbereitung, was besonders für die 3D-Probenbeobachtung nützlich ist. Darüber hinaus ist S-9380-II mit einer Hochleistungspistole ausgestattet, die einen Strahlstrom von bis zu zehn Milliampere erzeugen kann. HITACHI S 9380 II ist auch mit einer Reihe von Optionen für fortgeschrittene Bildgebung konfigurierbar, wie ein Spot-Size-Controller, Verzögerungsverhältnissteuerung und rückgestreute Elektronen- und MINT-Funktionen. Diese Eigenschaften ermöglichen es Forschern, schärfere Bilder zu erhalten und höhere Genauigkeit der Bilddaten zu erhalten. Darüber hinaus weist das optische Gut des Mikroskops einen maximalen Einfallswinkel von 30,3 ° auf, der mit einer Strahlablenkspannung von bis zu 5 kV sowie einer digitalen Abbildungsmöglichkeit einstellbar ist. Das ergonomische Design von S-9380 II trägt zu seiner Attraktivität als Werkzeug auf höchstem Niveau bei. Das Instrument ist intuitiv mit leicht zugänglichen Knöpfen und Tasten sowie einem programmierbaren hinterleuchteten Digitaldisplay. Darüber hinaus verfügt das Mikroskop über mehrere Sicherheitsmerkmale wie eine automatische Abkühlzeit, so dass das Modell optimal funktioniert, ohne die Stabilität der Probenkammer zu riskieren. Abschließend ist S9380 II ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das viele leistungsstarke und zuverlässige Funktionen für eine Reihe von Anwendungen bietet. Mit seiner beeindruckenden Bildgenauigkeit und Detailgenauigkeit lassen sich selbst die komplexesten Forschungsprojekte mit Präzision und Flexibilität abschließen. Das ergonomische Design und die eingebauten Sicherheitsmerkmale machen es zu einem gut ausgestatteten und fähigen Werkzeug, das nicht übersehen werden sollte.
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