Gebraucht HITACHI S-9380 II #293761864 zu verkaufen

HITACHI S-9380 II ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das in der Lage ist, hochauflösende Bildgebung und Analyse im Nanometer-Skalenbereich bereitzustellen. Es soll eine Vielzahl von Anwendungen erleichtern, wie Halbleiter-Dünnschichtauswertung, Materialcharakterisierung, 3-dimensionale Topographie und Metallographie. Das SEM ist mit einer neuen Art von Elektronenkanone, SuperBrightEBeam, ausgestattet, die Aberration und Verzerrung des Bildes erheblich reduziert. Diese Ausrüstung verwertet eine kalte Kathodenfeldemissionstypelektronquelle, um Stabilität zu maximieren und konsequente Operation zu sichern. Der Elektronenstrahl ist empfindlich gegenüber einem STEM (scanning transmission electron microscope) -Pegel und bietet eine hochauflösende Bildgebung. Das SEM kann in einem generischen Hoch- oder Niederspannungsmodus betrieben werden. Hochauflösender Modus nutzt energiegefilterte Bildgebung, die Auflösung und Null-Verlust-Bildgebung verbessert, die Sekundärelektronen (SE), rückgestreute Elektronen (BE) und mehr löst. Der Niederspannungsmodus eignet sich besser für die Abbildung von Oberflächenelementen und organischen Materialien. Farb- 3D-SE-BE Bildsynergie ist ebenfalls vorhanden. Für die Transmissionsmodus-Bildgebung ist das SEM mit einem Sondenbeleuchtungssystem ausgestattet, das die Probe in breitem Spektrallicht beleuchtet und das Rauschen in den Bildern reduziert. Das Gerät ist auch mit Detektoren wie SE, BE und EDX kompatibel, um Elementaranalysen durchzuführen. Das SEM ist mit einer Probenkammer mit einer Probengrößenkapazität von 2,5 mm ~ 10,0 mm (H) x 6,0 mm ~ 10,0 mm (D) ausgestattet. Die Probenkammer ist auch entworfen, um Neigung und Rotation der Probe durchzuführen, und verwendet Vakuumfunktionen und eine Gasmaschine, um einen sicheren Betrieb zu gewährleisten. Die benutzerfreundliche Oberfläche macht die Bedienung einfach und alle Einstellungen können schnell angepasst werden. Erweiterte Analysefunktionen wie Haupt- und Nebenphasenanalyse, Bildwiederherstellung und TEM-Beugungsmuster bieten die größtmögliche Vielfalt an Analysen. HITACHI S9380 II Rasterelektronenmikroskop ist ein effektives, vielseitiges Werkzeug für Forscher, die hochpräzise Bildgebung und Analyse im Nanometerbereich benötigen.