Gebraucht HITACHI S-9380 II #9095786 zu verkaufen

HITACHI S-9380 II Scanning Electron Microscope (SEM) ist eine High-End-Ausrüstung für Nanowissenschaften, Materialwissenschaften und Halbleiterforschungsanwendungen. Es verfügt über eine breite Palette von Vergrößerungen von mehreren Millimetern bis hin zu Galerien, was eine höhere Auflösung der Bildgebung mit überlegener Bildqualität ermöglicht, mit einer neuen Generation von Hochleistungsmikroanalysen wie EDX auf Nanometerebene. Der hochmoderne Energiefilter ist für eine effiziente semiquantitative Elementaranalyse integriert und bietet definitive Vorteile für die Materialforschung im Nanobereich. Das System ist mit einer verbesserten Vakuumkammer ausgestattet, mit einer noch höheren Betriebsfähigkeit, um eine genaue und stabile Umgebung unter einer Vielzahl von Anwendungen zu bieten. Seine robuste Konstruktion ist auch unter den schwierigen Bedingungen der hochauflösenden Mikroskopie langlebig. HITACHI S9380 II ist mit einer Kaltfeld-Emissionselektronenkanone (CFE) -Quelle ausgestattet, die einen Elektronenstrahl mit hoher Helligkeit für eine höhere Bildqualität bereitstellt. Eine hochempfindliche digitale Bildgebungseinheit ist ein wichtiges Merkmal dieses Rasterelektronenmikroskops. Seine Auflösung übersteigt die von anderen SEMs seiner Klasse, was eine detaillierte Abbildung von Mikro- und Nanostrukturen ermöglicht. Mit der schnellen digitalen Bildverarbeitungsmaschine lassen sich große Flächen schnell und effektiv scannen. Erweiterte analytische Funktionen wie EDX und EBSD sind für die Präzisionsabbildung und Bildgebung von Elementverteilungen und kristallographischer Struktur enthalten. S-9380-II ist auch mit einem Waferhalter für mehr Komfort beim Laden von kleinen Proben ausgestattet. Ein Speicher-Tool kann bis zu 2.000 Bilder speichern und ermöglicht ein schnelles Abrufen früherer Bilder, auch bei geringen Vergrößerungen. Eine elektronische Schnittstelle ermöglicht den Anschluss an einen Personalcomputer, der eine fortschrittliche computergesteuerte Steuerung des Mikroskops ermöglicht. S9380 II ist auch auf Benutzerfreundlichkeit und Komfort ausgelegt. Ein Sieben-Zoll-LCD-Display bietet eine klare Sicht auf die Bilder, so dass sie schnell und einfach navigiert werden können. Ein ergonomisches Design bietet einfachen Zugang zu allen Komponenten von S-9380 II. Eine vollständige Palette von Zusatzkomponenten, darunter ein Laserautofokus, automatisierte fokussierte Ionenstrahlsysteme, automatisierte Stufe, Datenerfassung, automatisierte Stufe und Bilddatenverarbeitungsanlagen, ist verfügbar, um komplexe Messungen und Operationen einfacher und schneller durchzuführen. Mit seinen beeindruckenden Eigenschaften und beispiellosen Leistungen kann HITACHI S 9380 II die anspruchsvollste und tiefgreifendste Analyse von Materialien und Strukturen im Nanometerbereich liefern. Damit ist das Asset ein ideales Instrument für Nanowissenschaften, Materialwissenschaften und Halbleiterforschungsanwendungen. Die Auflösungs- und Analysefunktionen auf Nanometerebene machen es zur ersten Wahl von Forschern auf der ganzen Welt.