Gebraucht HITACHI S-9380 II #9121417 zu verkaufen

HITACHI S-9380 II, ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), ist ein effizientes und leistungsstarkes Werkzeug für eine Reihe von Mikroskopieanwendungen. Es wurde entwickelt, um eine detaillierte Oberflächenanalyse von Materialien bereitzustellen und kann für eine breite Palette von Forschungsarbeiten verwendet werden, einschließlich analytischer Analyse einer Vielzahl organischer und nicht-organischer Oberflächen, Mikropartikel und Nanokristalle. HITACHI S9380 II ist mit mehreren Features ausgestattet. Es hat eine multisektionale Mikrofeld Emissionskanone (FEG), die die Auflösung der hochauflösenden Elektronenbildgebung erhöht, drei Elektroneneintrittswinkel (± 20 °, 0 ° und 90 °) und ein 50mm Wolfram FEG für stringente Anwendungen. S-9380-II kommt auch mit einem hochauflösenden EDX-Modul, das simultane Beobachtung und EDX Elementaranalyse ermöglicht, mit Qualitätsergebnissen. Es verfügt über umfassende Steuerungs- und Datenerfassungsfunktionen und ermöglicht es Benutzern, Daten für quantitative Analysen zu erfassen. Darüber hinaus verfügt das System über eine Fernbedienung sowie einen Monitor zur Anzeige von Bildern und Analyse von Daten. S9380 II verfügt über eine verbesserte Probenstufe, die bis zu 120 ° Neigungswinkel und eine glatte Stufenbewegung von 100 (100 mm) bietet und eine präzise Kontrolle während der Manipulation ermöglicht. Darüber hinaus wird die Probenstufe thermokontrolliert, was zur Reduktion der Drift und zur Aufrechterhaltung einer konstanten Temperatur beiträgt. S-9380 II bietet Bildstabilität und Auflösung, um feinste Details zu erfassen, mit einer Auflösung von 1 nm (seitlich) und 0,5 nm (vertikal). Es ist auch mit einer elektrischen Kondensatorlinse ausgestattet, die die Elektronenkanone auf Stufenhöhe optimiert. Eine Stromversorgung ist ebenfalls im Lieferumfang des Systems enthalten und bietet eine stabile Spannungsquelle für Probenheizung und andere Experimente. S 9380 II ist ein effektives und vielseitiges SEM, das für eine Reihe von Forschungsanforderungen geeignet ist. Seine erweiterten Funktionen und Steuerungsfunktionen bieten zuverlässige Bilder und Analysen mit hoher Genauigkeit. Seine Eigenschaften, Auflösung und Stabilität machen es zu einem idealen Werkzeug für Forschungsexperten.