Gebraucht HITACHI S-9380 II #9133735 zu verkaufen

Das Rasterelektronenmikroskop HITACHI S-9380 II ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Untersuchung von Materialien mit bis zu 500.000-facher Vergrößerungsleistung. Seine Sekundärelektronen (SE) und rückgestreuten Elektronendetektoren (BSE) bieten eine Auflösung von 2-3nm. Die präzise Probenpositioniervorrichtung ermöglicht auch die parallele Fokussierung der Platte, um die Bildklarheit im gesamten Arbeitsbereich zu verbessern. Die vollautomatisierte Ausrüstung besteht aus einer Vielzahl von Funktionen für eine Vielzahl von Bedürfnissen, einschließlich einer 21-Position-Probenscheibe und einer motorisierten Stufe für die Probenmanipulation. Es ermöglicht, Proben schnell und genau zwischen weiten Positionen zu bewegen und menschliches Versagen zu vermeiden. HITACHI S9380 II bietet zudem eine automatisierte Bildaufnahme sowohl für die SE- als auch für die BSE-Detektoren und bietet aufzeichnbare Bilder, die später gespeichert und überprüft werden können. Es enthält auch erweiterte Funktionen zur Steuerung der Elektronenstrahl-Punktgröße und -modulation sowie eine Schnittstelle zur Steuerung der Strom-, Spannungs- und Abtastgeschwindigkeit. Dies gewährleistet eine zuverlässigere bildgebende Erfahrung mit hochwertigen Ergebnissen. S-9380-II ist mit einem Kantenverstärkungssystem ausgestattet, das die Kombination von SE- und BSE-Detektoren verwendet, um den visuellen Kontrast zu verbessern und empfindliche Merkmale auf der Probenoberfläche zu charakterisieren. Das Gerät enthält auch eine einzigartige Messmaschine, einschließlich einer In-Camera-Zentrierung, für erweiterte Probenanalyse. Die X-Y Strahlpositionierungsgeber sorgen für eine genaue Strahlplatzierung und sorgen für detaillierte Bilder auf der Probe. Der eingebaute Kippmechanismus hilft bei der Anwendung von Neigungen bis + - 30 Grad mit minimaler Probendrift, was besonders bei der Untersuchung von Proben unterschiedlicher Dichte und Zusammensetzung nützlich ist. Die selbstreinigende Fernansichtseinheit ermöglicht eine komfortable Beobachtung der Probe und minimiert Verunreinigungen. Es verfügt außerdem über ein Intelligent Purity Tool (IPS), das eine automatisierte Analyse der Vakuumumgebung ermöglicht und die Parameter des Mikroskops abhängig von der Luftqualität automatisch anpasst. Für zusätzliche Benutzerflexibilität unterstützt das Asset auch Softwareanwendungen wie Analyze, EZView und 3D-Bildanalyse für die 3D-Analyse von Proben. Darüber hinaus steht ein Online-Service mit einem Engineering-Team zur Verfügung, um bei Wartung und Reparaturen zu helfen. Insgesamt ist das HITACHI S-9380-II Rasterelektronenmikroskop ein leistungsstarkes Werkzeug zur präzisen Bildgebung und Analyse von Proben. Seine fortschrittliche Automatisierung und sein umfangreiches Funktionsspektrum machen ihn zu einer idealen Wahl für unzählige Anwendungen.