Gebraucht HITACHI S-9380 II #9197047 zu verkaufen

HITACHI S-9380 II Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsfähiges bildgebendes System, das mit einem fokussierten Elektronenstrahl hochauflösende Bilder von Mikrostrukturen, Oberflächen und Partikeln bei hohen Vergrößerungen erzeugt. Mit einer Kombination aus Digital Micrograph Image Processing Software und hochempfindlichen Detektoren können HITACHI S9380 II eine Vielzahl interessanter Bilder und morphologischer Informationen erkennen und sammeln. S-9380-II ist ein ultrahochauflösendes Bildgebungssystem mit einer fortgeschrittenen luftführenden Probenstufe, die Scangeschwindigkeiten von bis zu 10 mm/s ermöglicht. Dies ermöglicht einen Nanometer-Pegelabstand, der eine hochauflösende Abbildung von Funktionen im Nanometermaßstab ermöglicht. Das Hochgeschwindigkeits-Scannen ermöglicht auch S 9380 II, Bilder schnell zu sammeln, wodurch der Bedarf an langen, langwierigen Scanzeiten minimiert wird. In der Vakuumkammer von S9380 II befindet sich auch ein hochempfindlicher Detektor, der eine Vielzahl von Bildmerkmalen von Mikrometern bis Nanometern sammeln kann. Darüber hinaus verfügt HITACHI S 9380 II über eine Vielzahl automatisierter Funktionen wie automatisierte Bühnenpositionierung, Autofokus, automatisierte Bildverarbeitung und automatisierte Erfassung von Sekundärelektronen (SE) -Bildern. Diese Funktionen ermöglichen es Benutzern, Bilder schnell und präzise zu sammeln und wertvolle Informationen über die Probe zu extrahieren. Durch den Einsatz von Digital Micrograph Image Processing Software kann S-9380 II auch verwendet werden, um Bilder zu verbessern, automatisierte Filteralgorithmen anzuwenden und sogar Funktionen mit Präzision bis in den Nanometermaßstab zu messen. In Kombination mit den fortschrittlichen Bildgebungsfunktionen von HITACHI- S-9380-II und digitalen Verarbeitungsfunktionen können Benutzer hochauflösende Bilder sammeln, Funktionen messen und statistische Daten durch automatisierte Analyse generieren. Dies macht HITACHI S-9380 II zu einem leistungsstarken Werkzeug für Forscher und industrielle Anwender, die detaillierte Bilder von kleinteiligen Funktionen erhalten möchten, und ermöglicht es ihnen, Proben schnell und genau zu analysieren.