Gebraucht HITACHI S-9380 II #9197048 zu verkaufen

HITACHI S-9380 II ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM). Sie eignet sich besonders gut für Dünnschichtanalysen und Bauteilinspektionen sowie für die Qualitätskontrolle in Forschungslabors. Mit einem sekundären Elektronendetektor mit Hellfeldabbildung und einem Vollfeldverschluss bietet er hochauflösende Bildgebung und eine breite Palette von Vergrößerungen. Es ist mit einer hochleistungsfähigen, spiegelähnlichen präzisionspolierten Säule mit einer einzigartigen Struktur ausgestattet, die einen vibrationsarmen Betrieb ermöglicht. Ebenfalls enthalten ist eine Bilddrehausrüstung zum Hinzufügen einer dreidimensionalen Ansicht zur Orientierung. HITACHI S9380 II verfügt außerdem über einen speziellen O-Gap-Aberrationskorrektor, der eine überlegene Tiefenfokussierung und eine verbesserte Auflösung ermöglicht. S-9380-II verfügt über ein massives 3-stufiges variables elektrostatisches Linsensystem, um hochauflösende Bilder von unterhalb einer Probe zu liefern. Der Primärelektronendetektor des SEM bietet eine Vielzahl von Vergrößerungen von 20x bis 450.000x. Zusätzlich ist die Linsenform einstellbar, um das Bild für bestimmte Ziele zu schärfen. Die Kombination eines Sekundärelektronendetektors und eines rückgestreuten Elektronendetektors sorgt für eine überlegene Abbildung mit überlegenem Kontrast sowohl in zwei als auch in drei Dimensionen. HITACHI S-9380-II umfasst auch eine automatisierte Bildverarbeitungseinheit, die die Daten schnell und genau analysiert. Diese Maschine verfügt über intelligente Algorithmen, die den Anwender über mehrere Klassifikationsergebnisse wie Zusammensetzung, morphologische Eigenschaften von Materialien und Komponenten sowie Textur- und Musteranalyse informieren. Es hilft auch bei Querschnittsprüfungen. S 9380 II wurde entwickelt, um sicher und einfach zu bedienen mit intuitiven benutzerfreundlichen Menüs. Es verfügt über ein ergonomisches Design für einfache Probenmontage und -manipulation sowie eine automatisierte Stufe für Probenpositionierung, Rotation und Zoom. Seine leistungsstarke Software ermöglicht es Benutzern, ihre Analyseparameter anzupassen, um die Bildqualität zu verbessern. Darüber hinaus können Benutzer mit seinem 14-Zoll-TFT- LCD-Monitor und dem 27-Zoll-Touch-Bedienfeld problemlos auf die Steuerungsfunktionen des SEM zugreifen. Insgesamt ist S-9380 II ein High-End-Rasterelektronenmikroskop, das in der Lage ist, detaillierte Bilder in einer Vielzahl von Vergrößerungen mit seinen erweiterten Bildgebungs- und Analysefähigkeiten zu liefern. Mit seiner intuitiven Bedienung und leistungsstarken Software ist es ideal für Dünnschichtanalyse, Bauteilinspektion, Qualitätskontrolle und Forschungslabore.