Gebraucht HITACHI S-9380 II #9197050 zu verkaufen

HITACHI S-9380 II ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop für nanoskalige Bildgebung und Analyse. Es ist eines der leistungsstärksten Rasterelektronenmikroskope, das in der Lage ist, Bilder mit einer Auflösung von weniger als 1 nm zu liefern und Partikel mit einer Größe von bis zu 0,3 Nanometern zu detektieren. Es verwendet eine Wolfram-gezielte Feld Emission Kathode (FEC) Elektronenquelle, die eine hohe Strahlintensität erzeugt, bietet hohe Stabilität und niedrige Vibrationen. HITACHI S9380 II ist in der Lage, zwei Elektronen und drei Elektronen abzubilden und kann verwendet werden, um eine breite Palette von Proben zu untersuchen, einschließlich Nanomaterialien, Halbleiter, Keramik und biologische Proben. Mit einem SE-Bildgebungssystem können S-9380-II die chemische Zusammensetzung einer Probe mit hoher Genauigkeit bei Nanometern der Auflösung bestimmen. Es kann auch verwendet werden, um vergrabene Strukturen abzubilden, Elemente und Verbindungen zu detektieren und die dreidimensionale Oberflächentopographie einer Probe mit einem beispiellosen Detaillierungsgrad zu analysieren. Darüber hinaus ist die einzigartige Fähigkeit von HITACHI- S-9380-II, die elementare Zusammensetzung in 3D zu analysieren, ideal für die Analyse von Strukturen bis zur atomaren Ebene. Das Mikroskop ist auch mit einem rückgestreuten Elektronendetektor ausgestattet, mit dem die Probe im topographischen Kontext oder zur elementaren Zusammensetzungstiefenprofilanalyse analysiert werden kann. Für erweiterte analytische Fähigkeiten ist S9380 II auch mit einem Energy Dispersive Röntgenspektrometer (EDS) ausgestattet, das eine Elementaranalyse im Bereich von 0-99% ermöglicht. Die Elektronenquelle des HITACHI S 9380 II ist mit zwei Filtern ausgestattet, so dass der Anwender den entsprechenden Filter für die spezifische Anwendung auswählen kann. Je nach Art der Probe können verschiedene Beschleunigungsspannungen im Bereich von 0,25 bis 30 kV verwendet werden. Das Mikroskop ist auch für Probenanalysen automatisierbar, was das Sammeln und Analysieren von Daten erleichtert. S 9380 II ist ein zuverlässiges, robustes System, das eine Vielzahl von Proben mit Präzision und Genauigkeit verarbeiten kann. Vor allem bietet S-9380 II eine sehr hohe Auflösung, so dass Forscher sehr detaillierte Bilder und Daten auf atomarer Skala erhalten können. Letztendlich bietet dieses hochmoderne Rasterelektronenmikroskop Wissenschaftlern und Ingenieuren ein leistungsfähiges Werkzeug, um ihnen beispiellose Einblicke in Nanostrukturen und deren Zusammensetzung zu ermöglichen.