Gebraucht HITACHI S-9380 II #9236036 zu verkaufen
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ID: 9236036
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2004
Scanning Electron Microscope (SEM), 12"
2004 vintage.
HITACHI S-9380 II ist ein Rasterelektronenmikroskop für eine Vielzahl fortschrittlicher Analysetechniken. Es ist ein semi-invertierter Typ, was bedeutet, dass die Probe auf der unteren Seite platziert wird und die Elektronensäule auf der Oberseite positioniert ist. Dieses Rasterelektronenmikroskop enthält eine Feldemissionskanone, die gut fokussierte Elektronenstrahlen emittiert und eine hochauflösende und hochempfindliche Probenbildgebung bei niedriger Beschleunigungsspannung ermöglicht. Das Gerät ist mit einer Vielzahl von analytischen und bildgebenden Funktionen ausgestattet. Für die Elementaranalyse verfügt es über ein energiedispersives Spektrometer, das Röntgenstrahlen der Proben misst und zur Gewinnung von Informationen über ihre chemische Zusammensetzung verwendet werden kann. Darüber hinaus ermöglicht es eine automatische Mehrpunktanalyse, die ein großartiges Werkzeug für eine schnelle Oberflächenanalyse ist. Darüber hinaus ermöglicht HITACHI S9380 II verschiedene bildgebende Verfahren, wie Sekundärelektronen und Rückstreuelektronen. Diese können verwendet werden, um Einblick in die Oberflächentopographie eines Exemplars zu erhalten und sind in Bereichen wie der Materialwissenschaft von unschätzbarem Wert. S-9380-II verfügt auch über digitale Störungen mit hochfrequenten elektromagnetischen Feldern. Dies ermöglicht die Vergrößerung eines Bildes bis 80,000X bei gleichbleibend guter Bildqualität. Diese Technik hilft bei der Beobachtung nanoskopischer Strukturen und Oberflächen. Die Bildverarbeitung, die zur Visualisierung der mikroskopisch erfassten Daten verwendet wird, wird mit S 9380 II. vereinfacht. Sie umfasst eine Mehrfenster- und Helligkeitsverarbeitung, eine Zeitraffer-Bildverarbeitung und eine Vielzahl anderer Bildverarbeitungsfunktionen. Diese ermöglichen eine effiziente Identifizierung und Darstellung der Bilddaten. Insgesamt ist HITACHI S 9380 II ein ideales Rasterelektronenmikroskop für fortgeschrittene Analyse- und Bildgebungstechniken. Seine vielen Eigenschaften machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug für eine Vielzahl von verschiedenen Forschungsbereichen.
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