Gebraucht HITACHI S-9380 II #9241975 zu verkaufen

HITACHI S-9380 II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Beobachtung, Bildgebung und Analyse von Oberflächenmerkmalen verschiedener Materialien. Mit einer beschleunigenden Spannung von bis zu 200kV bietet die Mikroskopie eine hochauflösende Bildgebung und kann Bilder bis zu einer Auflösung von 5 nm erzeugen. HITACHI S9380 II ist ein variabler Drucktyp SEM, einschließlich Funktionen von Hochvakuum, variablem Druck (LVP) und Niedervakuum (LV). Variabler Druck Der SEM-Betrieb bietet eine verbesserte Abbildung nichtleitender Proben aufgrund seiner einzigartigen Entladungssteuerung im LV- und LVP-Modus und verbessert auch die Analysefähigkeiten für die Probenoberflächencharakterisierung. S-9380-II verfügt über eine eigene TV-Kamera, virtuelle MINT-Vergrößerungslinse, Multi-Spot- und Mehrspaltenfunktionen. Die TV-Kamera bietet eine Auswahl von drei Kameras, die den Anforderungen des Benutzers entsprechen. Der gleichzeitige Betrieb von bis zu zwei Objektiven ermöglicht eine schnelle Bilderfassung. Die virtuelle MINT-Vergrößerungslinse mit mehreren Vergrößerungen bietet eine breite Palette von Probenbeobachtungen bei unterschiedlichen Vergrößerungen. Die mehreren Flecken an jeder Vergrößerungseinstellung stehen zur Verfügung, was dazu beiträgt, Tomographieanalysen oder großflächige Erhebungen zur Verfügung zu stellen. Darüber hinaus steht das mehrspaltige System, eine Kombination aus mehreren Scanbereichen, zur Erfassung von Bildern in mehreren Winkelorientierungen zur effizienten Beobachtung zur Verfügung. S9380 II umfasst eine Vielzahl von analytischen Fähigkeiten wie die energiedispersive Röntgenanalyse (EDX) und die Kathodolumineszenzanalyse. EDX, das für die elementare Zusammensetzungsanalyse verwendet wird, kann sowohl im Hoch- als auch im Niedervakuummodus verwendet werden. Es ist auch mit dem PASENDI ausgestattet - ein chemisches Bildgebungssystem ermöglicht die 2D-Verteilung bestimmter Elemente in der Probe. Die Kathodolumineszenzanalyse (CL) hilft bei der Analyse der optischen Emission aus der Probe, wenn sie durch einen hochenergetischen Elektronenstrahl angeregt wird. Neben EDS und CL kann HITACHI S 9380 II auch einer Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD) und einer Einzel- und Doppelstrahlanalyse unterzogen werden. In seiner Standardkonfiguration wird S-9380 II mit dem EDAX SIMS 180C, einem fortschrittlichen Elektronenbildgerät und einer Auswahl an Sekundär- und Rückstreuelektronendetektoren ausgeliefert. Es kommt mit einer breiten Palette von optimiertem Zubehör für eine einfache Probenmontage und -analyse. Kurz gesagt bietet HITACHI S-9380-II ein leistungsfähiges, zuverlässiges und kostengünstiges Rasterelektronenmikroskop, ideal für eine Vielzahl von Anwendungen in der Materialforschung, Nanotechnologie, Optoelektronik und Life Sciences.