Gebraucht HITACHI S-9380 II #9241982 zu verkaufen

HITACHI S-9380 II ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das Anwendern erweiterte bildgebende Funktionen bietet, mit denen sie komplizierte Probenstrukturen detaillierter visualisieren und analysieren können. Das System ist mit einer hochleistungsfähigen, großflächigen Field Emission Source (FES) ausgestattet, um die höchste Auflösung der Bildgebung zu gewährleisten und gleichzeitig eine breite Palette von bildgebenden und analytischen Techniken für eine breite Palette von Anwendungen anzubieten. Es ist in der Lage, Auflösungen bis zu Sub-Nanometer-Skalen zu erreichen, größer als 2 nm und hat Hochgeschwindigkeitsbildverarbeitung und Datenerfassung. Es ist gut geeignet für viele bildgebende Anwendungen wie fortschrittliche Halbleiterfehleranalyse, Metallographie, Prozessüberwachung, Schadstoffinspektion und Fehleranalyse. Das SEM ist mit einer Vielzahl automatisierter Proben- und Bühnensteuerungsmöglichkeiten ausgestattet. Dazu gehören eine hochpräzise XY-Stufe mit geringer Drift, verbesserte Genauigkeit und Wiederholbarkeit und ein innovatives Design der Probenkammer. Die Dual-Mode-Probenkameraautomatisierung bietet eine schnelle Fokussierung und Navigationen zu jeder beliebigen Position in der Kammer sowie eine kontrollierte Winkelabtastung. Die Steuerungssoftware verfügt über intuitive Befehle und Bildverarbeitungstools, die die Bedienung und Einrichtung vereinfachen. Das SEM ist auch mit fortschrittlichen Detektionssystemen wie Röntgenenergie-Dispersionsspektroskopie (EDS) und energiefilterter Bildgebung (EFI) ausgestattet, um scharf detaillierte Bilder mit geringem Rauschen und verbesserten Verschmutzungserkennungsfunktionen bereitzustellen. Der Probenhalter ist entworfen, um verschiedene Proben einschließlich Flüssigkeits- und Vakuumproben unterzubringen, mit mehreren Haltern und Optionen zur Verfügung. Es enthält eine Elektronenstrahlpistole, die eine einfallende Strahlwinkeleinstellung für maximale Flexibilität bei der Detektion von interessierenden Bereichen bietet. Die Probenplattform kann auch für Kipp- und Rotationsmessungen ausgebildet sein. In Bezug auf die Bildgebung ist HITACHI S9380 II mit einer hochauflösenden, rauscharmen Kamera ausgestattet, die Details bis zu 0,2 nm erfasst. Bilder können schnell mit höherer Geschwindigkeit Datenübertragung gespeichert werden, so dass eine schnellere gemeinsame Nutzung der Daten zwischen den Benutzern. Die Kamera bietet auch eine umfangreiche Auswahl an Videomodi, die eine robuste Analyse von Mustern oder Bildqualität ermöglichen. Darüber hinaus wird S-9380-II System häufig zur hochempfindlichen Elementaranalyse mit analytischen Merkmalen wie automatischer Spektrumanalyse, Partikelidentifikation und spektralen Überlagerungen verwendet. Insgesamt ist S-9380 II ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das erweiterte bildgebende und analytische Fähigkeiten bietet. Es bietet Anwendern die Möglichkeit, komplexe Strukturen bis hin zu Sub-Nanometer-Skalen zu visualisieren und zu analysieren. Die hochpräzise Proben- und Bühnensteuerung, intuitive Steuerungssoftware und fortschrittliche Erkennungssysteme bieten Anwendern die Flexibilität und Genauigkeit, die sie für eine Reihe von Anwendungen benötigen.