Gebraucht HITACHI S-9380 II #9244832 zu verkaufen

HITACHI S-9380 II Rasterelektronenmikroskop ist ein High-End-Forschungs-Tool entwickelt, um extrem kleine Proben mit außergewöhnlichen Details zu beobachten. Das Instrument nutzt Elektronenstrahlen, um ein Bild der Probe in nanoskaliger Auflösung zu erzeugen. Mit Hilfe einer Vakuumkammer kann HITACHI S9380 II ein breites Spektrum von Proben in luftdichter Umgebung scannen, frei von Verunreinigungen wie Wasserdampf und sogar statischer Elektrizität. Seine leistungsstarken Elektronenstrahlen helfen, die Nanostruktur der Probe bis zur subatomaren Ebene aufzudecken. S-9380-II verwendet ein einzigartiges optisches Systemdesign namens Ever Changing Condenser Objective Lens (ECOL) Technologie. Auf diese Weise kann das Mikroskop die Probe über einen stufenlosen Bereich von Vergrößerungen in einem einzigen Schuss scannen, wodurch Fehler durch Neuausrichtung und menschliche Variabilität minimiert werden. Darüber hinaus ermöglicht ein speziell entwickelter Detektor den Bedienern die Auswahl, mit welcher Art von Signal das Bild erzeugt wird. Dies können Elektronen, Sekundärelektronen, rückgestreute Elektronen oder auch Röntgenstrahlen sein. Die Scanrate von HITACHI S 9380 II beträgt 10 Frames pro Sekunde (fps) im SEM-Modus und 1 fps im STEM-Modus. Dies bietet eine hervorragende Bildgebungsleistung, auch bei höchsten Vergrößerungen. Zusätzlich enthält das Instrument einen Roboterarm, der den Probenaustausch und die Positionierung steuert, so dass bei der Bildgebung kein menschliches Eingreifen erforderlich ist. Dies trägt dazu bei, dass die Probenintegrität erhalten bleibt und alle in der Forschung verwendeten Bilder von höchster Qualität sind. In Bezug auf die Auflösung ist S-9380 II in der Lage, bis zu einer Auflösung von 0,7 Nanometern im STEM-Modus und 0,5 Nanometern im SEM-Modus zu scannen. Dies kann komplizierte Details der Probe von der Struktur einzelner Moleküle bis zur Organisation von Zellen aufzeigen. Darüber hinaus umfasst das Instrument mehrere helle Feld- und Dunkelfeldmodi, mit denen Bediener die Probe aus verschiedenen Blickwinkeln untersuchen können. Insgesamt ist HITACHI S-9380 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Bildgebung in Forschungsqualität entwickelt wurde. Seine variable Vergrößerung, hohe Auflösung und erweiterte Analysefunktionen ermöglichen es Forschern, extrem kleine Proben mit beispiellosen Details zu visualisieren und zu untersuchen.