Gebraucht HITACHI S-9380 II #9245588 zu verkaufen

HITACHI S-9380 II
ID: 9245588
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) (2) Ports.
HITACHI S-9380 II ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das erweiterte bildgebende und analytische Fähigkeiten bietet, um SEM-Bilder in höchster Qualität und umfassende Datenanalysen zu erzeugen. Dieses Gerät ist das neueste Modell in HITACHI-Familie von Elektronenmikroskopen und verfügt über spezialisierte Software für die Beobachtung von organischen und anorganischen Materialien auf der Nanoskala. Mit seinem hochempfindlichen energiedispersiven Röntgendetektor und der erweiterten Röntgenmikroanalyseeinheit kann er die elementare Zusammensetzung der Proben auf atomarer Ebene messen. Es ist auch in der Lage, große Bildfelder bei geringer Vergrößerung mit seinem Hochniveau Niederspannungs-SEM-System zu erfassen. HITACHI S9380 II verwendet eine thermionische Wolfram (W) Filament Elektronenquelle, die entworfen ist, um einen stabilen und niedrigen Koeffizienten der axialen Energieausbreitung zu erzeugen. Dies gewährleistet eine maximale Strahlstromausgabe und eine verbesserte Bildauflösung für bessere Leistung und höherauflösende Bilder. Darüber hinaus umfasst dieses Instrument eine einzigartige 3D-KE-Analyse für verbesserte Beobachtungsfunktionen. Diese Funktion ermöglicht eine detaillierte dreidimensionale Rekonstruktion von Bildern basierend auf der Ausrichtung von Mehrwinkel-SEM-Bildern von Proben. Es kann auch im Ultra-Low-Vakuum-Modus verwendet werden, so dass Materialien in einer natürlichen Umgebung beobachtet werden. S-9380-II ist kompatibel mit einer Reihe von Probenhaltern, einschließlich motorisierter Halter zur einfachen Ausrichtung einer Probe und Gaseinspritzhalter für gasförmige Proben. Es hat auch eine Reihe von fortschrittlichen Detektoren, einschließlich eines Rückstreuelektronendetektors für ein besseres Signal-Rausch-Verhältnis und einen energiedispersiven Röntgendetektor für die Elementar- und Phasenabbildung. Abschließend ist HITACHI S-9380-II ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das für eine Vielzahl von Anwendungen entwickelt wurde. Es verfügt über leistungsstarke bildgebende und analytische Funktionen und erweiterte Funktionen für verbesserte Beobachtung und Analyse. Es ist in der Lage, hochauflösende Bilder und umfassende Datenanalysen von Proben auf der Nanoskala zu erzeugen, und ist ein unschätzbares Instrument für Forscher in Bereichen wie Biologie, Physik oder Materialwissenschaft.
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